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パワーエレクトロニクス + 電源 + インバータ + コンバータ + 電子部品 + 半導体のセミナー・研修・出版物

電子回路の公差設計入門

2025年9月29日(月) 13時00分17時00分
オンライン 開催

設計者CAE 構造解析編 (強度)

2025年9月18日(木) 13時00分17時00分
オンライン 開催

電源回路設計入門 (2)

2025年8月18日(月) 13時00分17時00分
オンライン 開催

半導体製造における後工程・実装・設計の基礎・入門講座

2025年8月8日(金) 10時30分2025年8月22日(金) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、半導体後工程の基礎・各プロセスの技術から注目の2.5D/3Dパッケージングとチップレット技術について、開発当時の失敗や苦労、得られた代表的な知見などを講師の経験も踏まえて解説いたします。

半導体パッケージの基礎知識、技術動向と課題

2025年8月7日(木) 10時30分2025年8月26日(火) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、半導体パッケージの基礎から最近のパッケージの動向としてSiP, WLP, FOWLP, TSV技術などを例に解説いたします。

電波吸収体・シールド技術の基礎と最適設計・計測技術

2025年8月5日(火) 10時00分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、EMC分野の両輪である電波吸収体技術とシールド技術の基礎について解説いたします。
電波吸収体技術は、その基礎事項や要求性能について述べ、設計法や実現例について、また、シールド技術は、その分類や平面波シールドにおけるシェルクノフの式、そして隙間からの電波漏洩のメカニズムとその対策法について説明いたします。

電源回路設計入門 (2日間)

2025年8月4日(月) 13時00分17時00分
2025年8月18日(月) 13時00分17時00分
オンライン 開催

電源回路設計入門 (1)

2025年8月4日(月) 13時00分17時00分
オンライン 開催

電子部品の特性とノウハウ (2)

2025年7月30日(水) 13時00分17時00分
オンライン 開催

WBGパワーデバイス・モジュールに求められる高耐熱・信頼性実装材料・接合技術と新規材料・実装構造の開発、信頼性評価技術

2025年7月28日(月) 13時00分2025年8月11日(月) 16時00分
オンライン 開催

本セミナーでは、次世代パワーモジュール構造と実装に関する基礎知識、銀焼結接合技術と異種材界面接合技術、高放熱パワーモジュール構造設計、WBGパワーモジュール信頼性評価と劣化特性、低応力高信頼性のパワーモジュール構造設計方針、電子機器実装に関する熱設計について解説いたします。

WBGパワーデバイス・モジュールに求められる高耐熱・信頼性実装材料・接合技術と新規材料・実装構造の開発、信頼性評価技術

2025年7月25日(金) 13時00分16時00分
オンライン 開催

本セミナーでは、次世代パワーモジュール構造と実装に関する基礎知識、銀焼結接合技術と異種材界面接合技術、高放熱パワーモジュール構造設計、WBGパワーモジュール信頼性評価と劣化特性、低応力高信頼性のパワーモジュール構造設計方針、電子機器実装に関する熱設計について解説いたします。

電子部品・機構部品の主要な故障100超のモード・メカニズムとその対策

2025年7月25日(金) 10時00分16時50分
東京都 開催 会場・オンライン 開催

本セミナーでは、電気部品・機構部品の故障について取り上げ、故障事例、故障メカニズム、各種部品ごとのウィークポイント、デバイス評価時のおさえどころについて、豊富な経験に基づき、様々な事例を交えて詳しく解説いたします。

半導体製造における後工程・実装・設計の基礎・入門講座

2025年7月24日(木) 10時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、半導体後工程の基礎・各プロセスの技術から注目の2.5D/3Dパッケージングとチップレット技術について、開発当時の失敗や苦労、得られた代表的な知見などを講師の経験も踏まえて解説いたします。

電子部品の特性とノウハウ (2日間)

2025年7月23日(水) 13時00分17時00分
2025年7月30日(水) 13時00分17時00分
オンライン 開催

電子部品の特性とノウハウ (1)

2025年7月23日(水) 13時00分17時00分
オンライン 開催

半導体パッケージの基礎知識、技術動向と課題

2025年7月23日(水) 10時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、半導体パッケージの基礎から最近のパッケージの動向としてSiP, WLP, FOWLP, TSV技術などを例に解説いたします。

量子ドットの基礎物性、作製、構造測定技術とデバイス応用

2025年7月22日(火) 13時00分2025年8月4日(月) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、レーザー、太陽電池、ディスプレイなどへの応用が期待される半導体ナノ粒子「量子ドット」について取り上げ、量子ドットの基礎的な解説から、量子ドットの発光波長制御、高密度化、低密度、配列・位置制御、エピタキシャル量子ドットのデバイス応用、実際の実験データやデバイス試作例について、事例を交えて解説いたします。

チップレット実装におけるテスト・接続評価技術の最新動向

2025年7月18日(金) 13時00分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、チップレット実装における電子回路テストの概要からバウンダリスキャンやウェーハプローブテスト技術、新たなTSVの接合・接続評価技術などについて詳しく解説いたします。

ナノインプリントの材料、プロセスの設計とVR/AR、半導体プロセスへの応用技術

2025年7月15日(火) 10時30分2025年7月25日(金) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、ナノインプリントについて取り上げ、ナノインプリントリソグラフィ (NIL) の原理、長所と短所、欠陥対策、そして今注目を集める応用技術を詳解いたします。

半導体製造用ガスの技術動向と流量制御、分析技術

2025年7月15日(火) 10時30分16時15分
オンライン 開催

積層セラミックコンデンサ (MLCC) の設計、材料技術、開発動向と課題

2025年7月11日(金) 13時00分2025年7月25日(金) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、MLCC開発で求められる技術、設計の考え方を概説いたします。
主にNi内部電極MLCCで薄層素子を形成するBaTiO3 (BT) 粉末の合成およびBT誘電体セラミックスの設計指針として、格子欠陥の生成、ドナーやアクセプター元素などによる異種元素置換による格子欠陥制御など、熱力学的考察を交えて材料組成開発に係わる組成設計を説明いたします。

CMP技術とその最適なプロセスを実現するための実践的総合知識

2025年7月11日(金) 10時30分2025年7月25日(金) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、半導体デバイス製造における様々なCMP工程の特徴を紹介し、それに用いられる装置、スラリー、パッドの詳細を解説いたします。
さらに、CMPによる材料除去のメカニズムについて様々なモデルを紹介し、そこからパッドやスラリーのあるべき姿を考察いたします。

車載電子機器の放熱性を確保するための各種熱設計と封止技術

2025年7月11日(金) 10時30分2025年7月18日(金) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、放熱性を確保するためのポイントについて、講師の経験を踏まえて解説いたします。
また、今後の車載電子製品の方向性についても解説いたします。

ALD (原子層堆積法) の基礎と高品質膜化および最新動向

2025年7月10日(木) 13時00分17時00分
オンライン 開催

本セミナーでは、講師の研究成果を題材に、原子層堆積法の特に表面反応を中心とした機構について解説いたします。
また、最新研究成果として3D-CoolALD (室温三次元成膜ALD) による各種酸化物膜の室温形成技術について解説いたします。

半導体ドライエッチングの基礎と最新技術

2025年7月10日(木) 10時30分2025年7月17日(木) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、最先端半導体プロセスに用いられるドライエッチング技術全体を、基礎となる物理化学原理から解説し、特に、近年注目を集める原子層エッチング (ALE) 技術について、表面反応機構から最新技術動向までを解説いたします。

車載電子機器の放熱性を確保するための各種熱設計と封止技術

2025年7月10日(木) 10時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、放熱性を確保するためのポイントについて、講師の経験を踏まえて解説いたします。
また、今後の車載電子製品の方向性についても解説いたします。

半導体洗浄の技術動向と表面欠陥・汚染の低減技術

2025年7月9日(水) 10時30分16時15分
オンライン 開催

本セミナーでは、半導体洗浄について取り上げ、パーティクル付着のメカニズムと除去技術を解説いたします。
また、品質向上に向けた物理、化学、超音波、プラズマ洗浄の技術動向を詳解いたします。

半導体テスト技術の基礎と動向

2025年7月9日(水) 10時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、半導体テストの種類・意義などの基礎知識から、最新技術動向について解説いたします。
また、AI用等の半導体で非常に重要となる理論回路のテスト技術については、テスト品質とテストコストを両立させるポイントも含めて詳説いたします。

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