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本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。

本セミナーでは、異物不良ゼロの考え方と進め方、徹底清掃の進め方、清掃改善、異物対策と異物管理の経験則を紹介いたします。
これらのアプローチは講師が31年間のコンサルティングで異物不良を実際にゼロにし、その経験則を体系化したものです。
その範囲は、半導体、液晶、電子部品、自動車、窯業、家電、精密機械、プラスチック成形、金属加工、金型と多岐にわたり、一般エリアからクリーンルームまですべての現場で適用可能です。

本セミナーでは、GMP文書の作成、記録作成について取り上げ、GMP省令20条2項の具体的な対応、記録保管所の施錠管理、記録作成時のダブルチェック、他手順書との不整合の防止・管理、手順書の改訂時における関係部署及びQAのレビューについて詳解いたします。

本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。

本セミナーでは、固体高分子の脆性破壊は高分子に存在する欠陥によるひずみの拘束による高い応力集中に起因することを理解し、そのような高分子のタフネスを改善するにはそのひずみの拘束を高分子の複合構造を調整して小さく設定することにより実現できることを解説いたします。

本セミナーでは、高級フィルムカメラの裏蓋の破壊事例をはじめ、具体的な事例を中心に高分子材料の劣化や破壊について基礎から説明いたします。
また、問題解決手法として無償公開しているソフトウェアを用いたワイブル統計解析やデータマイニングの手法も解説いたします。

本セミナーでは、GMP文書の作成、記録作成について取り上げ、GMP省令20条2項の具体的な対応、記録保管所の施錠管理、記録作成時のダブルチェック、他手順書との不整合の防止・管理、手順書の改訂時における関係部署及びQAのレビューについて詳解いたします。

本セミナーでは、信頼性の予測に用いるFMEAやFTA、数値解析などの概要を紹介した上で、実際に予測する際にどのような点に注意が必要なのかについて紹介いたします。

本セミナーでは、外注管理について基礎から解説し、品質指導、トラブルの未然防止策と対応、納期・原価管理、海外の外注先管理について、演習を交えて分かりやすく解説いたします。

本セミナーでは、外観検査の基礎から解説し、効率的な目視検査の手順、目視検査員の教育、外観検査結果の活用、品質改善の手順とポイントについて詳解いたします。

本セミナーでは、ヒューマンエラーを誘引せず、実効性のあるSOP、指図記録書とはどうあるべきか、事例を基に考察いたします。