技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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「不良」がゼロにならないのは、不良の要因と対策がわからないからです。
講師は、31年のコンサルティングで不良をゼロにした経験から、不良の「92の要因」と「62の対策を見つけ出し、それを体系化し、「10のツール (アプローチ) 」を創り出しました。このツールを使うことにより、原因のわからない不良もゼロにできます。
本セミナーでは、その基本的な考え方を「不良ゼロの5原則」で紹介し、各生産要素の改善ツール、「異物ゼロへのアプローチ」、「原則整備へのアプローチ」、「ポカミスゼロへのアプローチ」、「キズゼロへのアプローチ」を解説します。
不良は必ずゼロになります。本セミナーを受け、現場で実践し、ぜひ、今まで悩んでいた不良がゼロになる醍醐味を是非味わって下さい。
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「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 42,000円(税別) / 46,200円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/1/7 | 生成AIの支援による特許調査・明細書作成・中間処理の効率化 | オンライン | |
2025/1/8 | アレニウス式加速試験におけるプロット作成と予測値の取扱い | オンライン | |
2025/1/8 | デジタルツイン活用におけるフロントローディングプロセスの提案 | オンライン | |
2025/1/9 | 実践疲労強度設計 | オンライン | |
2025/1/10 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2025/1/10 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
2025/1/14 | プラントのDX化による異常予兆検知、予知保全とその運用 | オンライン | |
2025/1/14 | 自然言語処理を活用した研究開発、材料分野への適応事例 | オンライン | |
2025/1/15 | 4M管理の基本と運用手順 | オンライン | |
2025/1/17 | 未然防止のための過去トラ集の作り方と使い方のポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/1/17 | 化学工場・プラントの事故に学ぶ本質的原因の探究と管理・指導側が講じるべき安全対策 | オンライン | |
2025/1/17 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
2025/1/20 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2025/1/21 | 生成AIの社内構築と導入・普及・活用の実際 | オンライン | |
2025/1/21 | MTシステム (MT法) の基礎および異常検知・異常モニタリング・予防保全技術入門 | オンライン | |
2025/1/21 | 生成AIの知財業務への適用と特許出願実務・データ分析の実践 | オンライン | |
2025/1/21 | 最先端フロントローディング設計開発手法 | オンライン | |
2025/1/22 | 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ | オンライン | |
2025/1/22 | 4M管理の基本と運用手順 | オンライン | |
2025/1/23 | 量産に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバストデザイン | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/4/28 | プラントのDX化による生産性の向上、保全の高度化 |
2022/4/28 | 研究開発部門へのDX導入によるR&Dの効率化、実験の短縮化 |
2022/1/13 | DXを未来のビジネスに結びつけるための情報収集利活用ノウハウ |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |