技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、表面、界面の基礎から、分析評価を中心にして、その姿を明らかにして利用するためのアプローチについて、技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、アプローチに方法まで応用アプリケーションの事例を交えて解説いたします。
本セミナーでは、異物分析における前処理技術から機器分析原理まで詳しく解説いたします。
本セミナーでは、異物分析における前処理技術から機器分析原理まで詳しく解説いたします。
本セミナーは、分析手法の解説から、モノづくりや問題解決のための手法選択から分析の進め方といった分析設計について、基本となるセオリーから豊富な事例やケーススタディーを用いて、詳細に解説いたします。
本セミナーでは、異物分析における前処理技術から機器分析原理まで詳しく解説いたします。
本セミナーでは、異物分析における前処理技術から機器分析原理まで詳しく解説いたします。
本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。
本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。
本セミナーでは、電子部品の不具合観察・解析と不良対策について取り上げ、講師の実務経験に基づき、本質に迫るための試料作製と表面分析の勘所を解説いたします。
本セミナーでは、表面分析における試料準備・適切な前処理・データ解析技術、データ取り扱いや解析における時の注意点、誤った解析事例・最適な解析事例について、実際の分析事例をもとに詳解いたします。
本セミナーでは、異物分析について基礎から解説し、サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器 (顕微FT-IR、SEM-EDX) について原理・分析/解析のテクニックを事例を交えて解説いたします。
本セミナーでは、X線光電子分光、赤外・ラマン散乱、和周波発生分光法、電子顕微鏡などを取り上げ、表面・界面分析手法について基礎から解説し、目的に応じた最適な測定方法の選定について、実際の分析事例をもとにわかりやすく解説いたします。
本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。
本セミナーでは、めっきの基礎から解説し、電解めっき (Cu,Sn-Cu, Au,Ni) 、無電解めっき (Ni、ジンケ – ト処理) について課題や膜形成のポイントを解説いたします。
本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。
本セミナーでは、走査電子顕微鏡による観察の基礎から解説し、液体、乳化物、冷凍品の観察法、ステレオ観察法、酵素消化法によるグルテンの観察法、画像処理の実際について詳解いたします。
本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。
本セミナーでは、各種電子顕微鏡の構造と原理、観察目的に応じた観察手法の選択などについてわかりやすく解説!TEM用薄片試料の作製方法、ノウハウについて詳解いたします。
本セミナーでは、材料開発や製造プロセス評価に欠かせない材料の構造/組成解析について、
より良い分析・画像データを取得するためのポイントについて、熟練の講師が基礎からみっちり解説いたします。
本セミナーでは、高分子材料表面の外観不良原因を解明した事例を多く取り上げ、表面外観不良を防止する施策を詳解いたします。