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SEM (Scanning Electron Microscope / 走査型電子顕微鏡)のセミナー・研修・出版物

表面・界面分析手法の基礎と実務への活用

2024年8月28日(水) 12時30分2024年8月30日(金) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、X線光電子分光、赤外・ラマン散乱、和周波発生分光法、電子顕微鏡などを取り上げ、表面・界面分析手法について基礎から解説し、目的に応じた最適な測定方法の選定について、実際の分析事例をもとにわかりやすく解説いたします。

表面・界面分析手法の基礎と実務への活用

2024年8月22日(木) 12時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、X線光電子分光、赤外・ラマン散乱、和周波発生分光法、電子顕微鏡などを取り上げ、表面・界面分析手法について基礎から解説し、目的に応じた最適な測定方法の選定について、実際の分析事例をもとにわかりやすく解説いたします。

走査電子顕微鏡を駆使した液中観察技術の新展開

2024年7月31日(水) 13時00分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、これまでのSEMによる液中観察の歴史や概要と講師が開発を進めている走査電子誘電率顕微鏡に関して詳しく解説いたします。

トライボロジーの基礎、メカニズムと表面分析

2024年6月13日(木) 10時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、トライボロジーの基礎について、その実用・応用事例を組み合わせて初心者にもわかりやすく解説いたします。
事例には、広く実用化されている機械や普及している材料を扱い、講師が実践した事例やその過程で実施した観察・分析の実用技術、データ解析手法などが主に含むものとします。

表面・界面分析手法の基礎と実務への活用

2024年5月21日(火) 12時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、X線光電子分光、赤外・ラマン散乱、和周波発生分光法、電子顕微鏡などを取り上げ、表面・界面分析手法について基礎から解説し、目的に応じた最適な測定方法の選定について、実際の分析事例をもとにわかりやすく解説いたします。

企業人が使う機器分析入門

2024年4月26日(金) 10時30分2024年4月30日(火) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、機器分析の装置の測定原理、対象に応じてどのような機器分析装置を適用したらよいかを全体を網羅しながら解説いたします。

企業人が使う機器分析入門

2024年4月16日(火) 10時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、機器分析の装置の測定原理、対象に応じてどのような機器分析装置を適用したらよいかを全体を網羅しながら解説いたします。

表面観察・分析装置を用いた電子部品の不具合箇所の特定・観察・解析と不良対策

2024年4月11日(木) 13時00分2024年4月24日(水) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。

表面観察・分析装置を用いた電子部品の不具合箇所の特定・観察・解析と不良対策

2024年3月29日(金) 13時00分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。

企業人が使う機器分析入門

2024年2月20日(火) 10時30分2024年2月22日(木) 16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、機器分析の装置の測定原理、対象に応じてどのような機器分析装置を適用したらよいかを全体を網羅しながら解説いたします。

企業人が使う機器分析入門

2024年2月7日(水) 10時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、機器分析の装置の測定原理、対象に応じてどのような機器分析装置を適用したらよいかを全体を網羅しながら解説いたします。

表面・界面の考え方と分析の基礎、および実践応用テクニック、ノウハウ

2023年10月10日(火) 10時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、表面、界面の基礎から、分析評価を中心にして、その姿を明らかにして利用するためのアプローチについて、技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、アプローチに方法まで応用アプリケーションの事例を交えて解説いたします。

表面分析を活用した電子部品の不具合観察・解析と不良対策のポイント

2022年9月21日(水) 13時00分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。

電子部品の不具合観察・解析と不良対策のポイント

2021年8月23日(月) 13時00分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。

表面分析を活用した電子部品の不具合観察・解析と不良対策

2021年7月9日(金) 13時00分17時00分
オンライン 開催

本セミナーでは、電子部品の不具合観察・解析と不良対策について取り上げ、講師の実務経験に基づき、本質に迫るための試料作製と表面分析の勘所を解説いたします。

表面分析の基礎と最適な計測手法

2020年11月27日(金) 12時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、表面分析における試料準備・適切な前処理・データ解析技術、データ取り扱いや解析における時の注意点、誤った解析事例・最適な解析事例について、実際の分析事例をもとに詳解いたします。

異物分析の基礎と測定・解析の事例

2019年10月11日(金) 12時30分16時30分
大阪府 開催 会場 開催

本セミナーでは、異物分析について基礎から解説し、サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器 (顕微FT-IR、SEM-EDX) について原理・分析/解析のテクニックを事例を交えて解説いたします。

表面・界面分析手法の基礎と実務への活用

2019年3月29日(金) 12時30分16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、X線光電子分光、赤外・ラマン散乱、和周波発生分光法、電子顕微鏡などを取り上げ、表面・界面分析手法について基礎から解説し、目的に応じた最適な測定方法の選定について、実際の分析事例をもとにわかりやすく解説いたします。

表面分析技術の基礎と応用

2016年7月21日(木) 13時00分16時00分
東京都 開催 会場 開催

多様な微小部・表面・界面の分析技術と正しいデータ解釈

2016年3月15日(火) 10時30分16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

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