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TEM (Transmission Electron Microscope / 透過型電子顕微鏡)のセミナー・研修・出版物

表面・界面分析手法の基礎と実務への活用

2019年3月29日(金) 12時30分16時30分
東京都 開催

本セミナーでは、X線光電子分光、赤外・ラマン散乱、和周波発生分光法、電子顕微鏡などを取り上げ、表面・界面分析手法について基礎から解説し、目的に応じた最適な測定方法の選定について、実際の分析事例をもとにわかりやすく解説いたします。

半導体材料、デバイスの電子顕微鏡技術による解析法の基礎と試料作製法のポイント

2012年11月9日(金) 10時30分16時30分
大阪府 開催

本セミナーでは、各種電子顕微鏡の構造と原理、観察目的に応じた観察手法の選択などについてわかりやすく解説!TEM用薄片試料の作製方法、ノウハウについて詳解いたします。

透過電子顕微鏡による分析手法と試料作製の基礎を学ぶ

2012年7月31日(火) 10時30分16時30分
東京都 開催

本セミナーでは、材料開発や製造プロセス評価に欠かせない材料の構造/組成解析について、
より良い分析・画像データを取得するためのポイントについて、熟練の講師が基礎からみっちり解説いたします。

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