表面的に物を見る、という言葉は決して良い意味で使われない言葉です。しかし実のところ表面は多彩な形態や機能を持ち、材料自身とは全く異なる特有の性質を示すこともあります。現在、電子分光や光を使った手法、プロープ顕微鏡や放射光など表面分析を行うものとしては各種の分析手法がありますが、表面の何を調べるのかで最適な計測手法は異なります。
　表面の何を知りたいか?を出発点として、表面を調べるにあたって、どんな手法が最適で何がわかるのか?を、実際の分析事例をもとに解説していきます。
　理想的な系で得られるデータだけでなく、実際測定しようとしている部材に適用する際の注意点や、解析における注意点、表面と界面の違いなどを紹介いたします。また、表面・界面に存在する分子の情報を選択的に取得する手法としての和周波分光についての解説も行います。

1. 表面を調べるにあたって
   1. 表面の何を調べるのか
   2. 物理的情報と化学的情報の区分
   3. 空間分解能と深さ方向分解能
   4. 試料の形状と測定に必要な条件
2. 電子を使った表面分析
   1. X線光電子分光
   2. オージェ電子分光
   3. 紫外光電子分光
   4. 電子分光における注意点
3. 光を使った表面分析
   1. 分子情報を取得する方法 – 赤外・ラマン散乱
   2. 和周波発生分光法
   3. 可視・紫外光を使った分光計測手法
4. プローブ顕微鏡、電子顕微鏡
5. 物性計測
   1. 接触角、表面張力測定
   2. 吸着状態の評価 – 昇温脱離法
6. 表面の何を調べるのか?
   1. 試料の前処理
   2. 定量評価と定性評価
   3. 分子配向
   4. 表面、界面反応
   5. 「表面」と「界面」は同じ? 違う?
7. まとめ
• 質疑応答