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AES (Auger Electron Spectroscopy / オージェ電子分光法)のセミナー・研修・出版物

表面分析 (TOF-SIMS、XPS) の原理と分析のポイント・データ解釈の注意点

2024年3月14日(木) 13時00分16時00分
オンライン 開催

本セミナーでは、表面分析について基礎から解説し、表面分析法の適切な使い分け、試料作製、測定条件の設定方法、データ解析を適切におこなうためのノウハウを解説いたします。

表面・界面の考え方と分析の基礎、および実践応用テクニック、ノウハウ

2023年10月10日(火) 10時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、表面、界面の基礎から、分析評価を中心にして、その姿を明らかにして利用するためのアプローチについて、技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、アプローチに方法まで応用アプリケーションの事例を交えて解説いたします。

表面分析 (TOF-SIMS、XPS) の原理と分析のポイント・注意点

2023年9月27日(水) 13時00分16時00分
オンライン 開催

本セミナーでは、表面分析について基礎から解説し、表面分析法の適切な使い分け、試料作製、測定条件の設定方法、データ解析を適切におこなうためのノウハウを解説いたします。

ものづくり・問題解決のための機器分析の考え方と進め方

2023年8月7日(月) 10時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーは、分析手法の解説から、モノづくりや問題解決のための手法選択から分析の進め方といった分析設計について、基本となるセオリーから豊富な事例やケーススタディーを用いて、詳細に解説いたします。

固体表面の分析 (XPS, AES, TOF-SIMS) と実践ノウハウ

2022年12月5日(月) 12時30分16時30分
オンライン 開催

本セミナーでは、固体表面の組成や状態、構造の正しい情報を得るためのコツ、テクニックを解説いたします。

多様な微小部・表面・界面の分析技術と正しいデータ解釈

2016年3月15日(火) 10時30分16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

表面・微小部・深さ方向の分析と試料前処理およびデータの真実・非真実を見抜く養成講座

2015年11月26日(木) 10時30分16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

表面・微小部・深さ方向の分析と目的に応じた最適方法および正しいデータ解析

2014年4月25日(金) 10時30分16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

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