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透過電子顕微鏡による分析手法と試料作製の基礎を学ぶ

より良い分析データを得るために!

透過電子顕微鏡による分析手法と試料作製の基礎を学ぶ

東京都 開催 会場 開催
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概要

本セミナーでは、材料開発や製造プロセス評価に欠かせない材料の構造/組成解析について、
より良い分析・画像データを取得するためのポイントについて、熟練の講師が基礎からみっちり解説いたします。

開催日

  • 2012年7月31日(火) 10時30分 ～ 16時30分

受講対象者

  • 企業、研究機関における分析センターの分析技術者
  • 分析の初心者

修得知識

  • 電子顕微鏡の基礎
  • 分析用試料の作製法
  • 電子顕微鏡分析の評価・解析例

プログラム

　複合材料や触媒・微粒子などのナノ材料の開発・評価においては原子レベルで構造解析、分析ができる透過電子顕微鏡が不可欠な装置となっている。
　本セミナーでは、透過電子顕微鏡による材料の評価を迅速に正しく行うための基礎知識を学ぶ。
　透過電子顕微鏡の構造や操作方法とデータの解析方法、また分析目的に沿った試料作製法を系統的に整理する。

  1. 電子顕微鏡 (TEM) と走査電子顕微鏡 (STEM) の基礎
    1. TEMの基礎
    2. TEMの構造と基本操作
    3. STEMの基礎と操作
    4. 収差補正電子顕微鏡の基礎
  2. 高分解能法、電子回折法、STEM法
    1. 高分解能法と像解釈
    2. 電子回折の基礎と応用
    3. STEM像 (BF、ABF、HAADF) の基礎と像解釈
  3. 分析電子顕微鏡技法
    1. エネルギー分散型X線分光 (EDS) 法
    2. エネルギー損失分光 (EELS) 法
    3. 電子線トモグラフィー法
    4. 電子線ホログラフィー法とローレンツ法
  4. 分析用試料作製法
    1. 伝統的試料作製法
    2. イオンビームによる試料作製法 (FIB、イオンスライサー)
  5. 電子顕微鏡分析の実際と評価・解析の例
    1. 触媒、コア/シェル粒子
    2. カーボン材料 (ナノチューブ、グラフェン)
    • 質疑応答
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講師

  • 及川 哲夫 氏
    日本電子(株) 電子光学機器営業本部
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会場

品川区立総合区民会館 きゅりあん

5F 第3講習室

東京都 品川区 東大井5丁目18-1
品川区立総合区民会館 きゅりあんの地図
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主催

サイエンス＆テクノロジー 株式会社
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 45,000円 (税別) / 47,250円 (税込)
複数名
: 38,000円 (税別) / 39,900円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名で参加の場合、1名につき 7,350円割引
  • 3名で参加の場合、1名につき 10,500円割引 (同一法人に限ります)
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