技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、半導体の高品質化・高信頼化に向けたテスト生成技術、AIの活用、セキュリティとの関係性について、最新の技術トレンドを交えて解説いたします。
ChatGPTやGemini等の生成AIの普及とともに、その処理に要する計算能力を供給する半導体の需要は非常に高まっています。また、自動運転車やスマートシティなどでも電子機器が中心的な役割を担っています。一方、半導体はデジタル変革 (DX) のキーデバイスともなっており、半導体集積回路やそれを利用するシステムの品質、信頼性及びセキュリティは益々重要となっています。このような背景のもと、これらの重要な要件を支える技術として、半導体テストへの注目が高まっています。
そこで、本講演では、半導体テストについて基礎から分かりやすく紹介します。とくに、AI用などの半導体で非常に重要となる論理回路のテストに関して、実際にテストに使用するテストパターンを作成する「テスト生成」、及び、テスト生成を実用的な時間で実行可能にする「テスト容易化設計」について、品質とコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。
さらに、最新の技術動向として、自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」、テスト技術への「AI」の活用、そして、テスト技術と「セキュリティ」の関わりについて、最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。
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| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/6/1 | 生成AIによる特許調査の進め方とプロンプト設計のポイント | オンライン | |
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| 2026/6/2 | 生成AIを用いた官能評価の設計とデータ解析・構造化 | オンライン | |
| 2026/6/2 | ナノインプリントリソグラフィの材料・プロセス技術と半導体回路形成への応用 | オンライン | |
| 2026/6/2 | 特許調査・分析、明細書作成における生成AI活用とプロンプト設計の仕方 | オンライン | |
| 2026/6/3 | 生成AIを活用したデータ分析の基礎と利用のポイント | オンライン | |
| 2026/6/3 | 半導体パッケージングの基礎、各製造プロセス技術 | オンライン | |
| 2026/6/4 | ExcelデータをPythonで活かすデータ解析 | オンライン | |
| 2026/6/4 | 各種プラスチック成形品の破損トラブルと原因解析 | オンライン | |
| 2026/6/4 | 電子実験ノートの導入とR&Dデータ共有・利活用ノウハウ | オンライン | |
| 2026/6/4 | オフライン電源の設計 (3日間) | オンライン | |
| 2026/6/4 | 生成AIを活用した法令検索の効率化とその進め方 | オンライン | |
| 2026/6/4 | オフライン電源の設計 (1) | オンライン | |
| 2026/6/5 | 他社特許分析の実務と生成AIを使った効率化、"強い" 特許を得るための考え方・具体的方法 | オンライン | |
| 2026/6/5 | 半導体製造工程における洗浄・クリーン化技術と汚染制御対策 | オンライン | |
| 2026/6/8 | ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/6/8 | AIによる物性推算 | オンライン | |
| 2026/6/8 | 各種プラスチック成形品の破損トラブルと原因解析 | オンライン | |
| 2026/6/8 | 半導体プラズマにおける診断・モニタリングと制御技術 | オンライン | |
| 2026/6/8 | AI半導体に求められる要求特性と国内外の開発状況 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
| 1997/5/1 | 配布線設計技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1990/6/1 | LSI周辺金属材料・技術 |
| 1989/3/1 | 有限要素法による磁気回路解析手法 |
| 1988/10/1 | 高密度表面実装 (SMT) におけるLSIパッケージング技術 |
| 1988/3/1 | 実用高周波回路設計・測定技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/9/1 | 磁気回路の計算法 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
| 1985/12/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅰ) |
| 1985/11/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅱ) |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |