技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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株式会社東芝
半導体評価技術部
主査
石川 光昭
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2024/4/22 | 外観検査の概要、目視検査と自動検査の比較、その実際 | オンライン | |
2024/4/22 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2024/4/22 | フォトレジスト材料の基礎と課題 | オンライン | |
2024/4/22 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
2024/4/23 | 技術・製品開発4大課題を解消するロバスト最適化開発法実践入門 | オンライン | |
2024/4/23 | 半導体パッケージ 入門講座 | オンライン | |
2024/4/24 | 信頼性基準適用試験における運用への落とし込みと(国内外) 委託時の信頼性保証 | オンライン | |
2024/4/25 | 5G高度化とDXを支える半導体実装用低誘電特性樹脂・基板材料の開発と技術動向 | オンライン | |
2024/4/26 | 先端半導体パッケージにおけるボンディング技術 | オンライン | |
2024/4/26 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
2024/4/26 | 自動車の電動化に向けた半導体封止樹脂の設計と評価 | オンライン | |
2024/4/26 | 半導体パッケージにおけるチップレット集積技術の最新動向と評価 | オンライン | |
2024/5/7 | エヌビディアGPU祭りと半導体不況本格回復への羅針盤 | オンライン | |
2024/5/8 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2024/5/8 | 自動車の電動化に向けた半導体封止樹脂の設計と評価 | オンライン | |
2024/5/8 | 半導体パッケージにおけるチップレット集積技術の最新動向と評価 | オンライン | |
2024/5/10 | 半導体ウェハの欠陥制御と検出、評価技術 | オンライン | |
2024/5/13 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2024/5/15 | 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 | オンライン | |
2024/5/15 | ヒューマンエラー・ミスを防ぐための職場管理・作業管理方法と教育訓練 | オンライン |
発行年月 | |
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2024/2/26 | EUV (極端紫外線) 露光装置 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
2024/2/26 | EUV (極端紫外線) 露光装置 技術開発実態分析調査報告書 |
2023/9/29 | 先端半導体製造プロセスの最新動向と微細化技術 |
2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2023/4/28 | 次世代半導体パッケージの最新動向とその材料、プロセスの開発 |
2022/11/29 | 半導体製造プロセスを支える洗浄・クリーン化・汚染制御技術 |
2022/10/31 | 半導体製造におけるウェット/ドライエッチング技術 |
2022/6/17 | 2022年版 電子部品市場・技術の実態と将来展望 |
2022/6/13 | パワー半導体〔2022年版〕 (CD-ROM版) |
2022/6/13 | パワー半導体〔2022年版〕 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/11/12 | レジスト材料の基礎とプロセス最適化 |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2021/6/18 | 2021年版 電子部品・デバイス市場の実態と将来展望 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2020/7/17 | 2020年版 電子部品・デバイス市場の実態と将来展望 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2019/7/19 | 2019年版 電子部品・デバイス市場の実態と将来展望 |
2018/3/20 | レジスト材料・プロセスの使い方ノウハウとトラブル解決 |
2018/1/10 | SiC/GaNパワーエレクトロニクス普及のポイント |