技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、車載用電子部品・電子機器の信頼性について基礎から解説し、電子部品の故障メカニズム・評価・解析手法を詳説いたします。
自動車はどのような環境でも、故障が起こらないことが前提であり、購入品を含めた信頼性の作り込みが要求され、故障が起こった場合には徹底的な故障解析が必要になる。
本セミナーでは自動車メーカの要求事項や車載用部品に関する規格などを示すとともに故障メカニズム、信頼性評価、および故障解析に関し、解説する。 故障メカニズムは信頼性の基礎であり、信頼性の作り込み、信頼性評価、故障原因究明には不可欠な知識であり、これを理解することにより正しい対応が可能である。また、経験の乏しい技術者でも故障メカニズムが分かればある程度の対抗が可能である。
一方、実際に発生する市場故障にはいくつかの要因があり、その要因を把握した上で、それに対し、適切な未然防止と評価・解析を構築すべきである。
本セミナーでは、車載用電子部品・電子機器の信頼性技術について、詳細に説明する。
日本国内に所在しており、以下に該当する方は、アカデミック割引が適用いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/1/23 | 量産に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバストデザイン | オンライン | |
2025/1/24 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2025/1/28 | セラミックスの破壊メカニズムと破壊強さ試験・信頼性評価の基礎 | オンライン | |
2025/1/29 | 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ | オンライン | |
2025/1/29 | 自動車照明市場の最新動向・新技術トレンド | オンライン | |
2025/1/30 | 未然防止のためにFTAを効率的に使いこなすポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/1/30 | デザインレビュー (DR) の基本とすすめ方、抜け漏れ防止策 | オンライン | |
2025/1/30 | 導入品 (アカデミアへの委託試験も含む) の信頼性基準対応と信頼性基準試験の生データの取扱い | オンライン | |
2025/1/31 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見 + 問題解決) | オンライン | |
2025/1/31 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題解決) | オンライン | |
2025/2/4 | 電子機器における防水設計技術 (中級編) | オンライン | |
2025/2/5 | 先端半導体デバイスの多層配線技術と2.5D/3Dデバイス集積化 | オンライン | |
2025/2/5 | セラミックスの破壊メカニズムと破壊強さ試験・信頼性評価の基礎 | オンライン | |
2025/2/7 | 加速試験の加速係数の求め方と寿命予測ならびに試験法・バーンインへの展開 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/2/7 | トラブル潰しのためのFMEAとデザインレビューの賢い使い方 | オンライン | |
2025/2/7 | 設計FMEA、工程FMEAの基礎と実践ポイント | オンライン | |
2025/2/7 | 管理図 | オンライン | |
2025/2/14 | 液冷、液浸冷却システムの導入と運用 | オンライン | |
2025/2/14 | 外観目視検査の正しい進め方と精度向上すり抜け防止の具体的手法 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/2/17 | 蓄積された技術と故障物性に基づく高信頼性電子機器の開発・製造 | オンライン |
発行年月 | |
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2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
2005/6/30 | 車載LANとその応用 |
2003/11/18 | LSI設計の実戦ノウハウとプロセス知識 |
1999/10/29 | DRAM混載システムLSI技術 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1990/9/1 | LSI樹脂封止材料・技術 |
1990/6/1 | LSI周辺金属材料・技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/10/1 | 高密度表面実装 (SMT) におけるLSIパッケージング技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
1985/12/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅰ) |
1985/11/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅱ) |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |