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本セミナーでは、コンデンサの故障の原因と対策・未然防止策、調達・購入する際の留意点、コンデンサの安全性・信頼性・寿命評価について事例を交えて詳解いたします。

本セミナーでは、接触理論・アーク理論・摺動摩耗理論 、接点材料の変遷と勘所、 接点加工のプロセスと押さえどころ、接点の故障モード・発生機構、具体的な対策について、長年の経験と研究に基づき、実践的に詳しく解説いたします。

本セミナーでは、信頼性物理や信頼性試験技術を中心に、故障メカニズム、故障の加速モデルと検出感度の向上と効率化のためのTEGの設計、ストレス印加方法及び、それに伴い必要な解析、計測技術について解説いたします。

本セミナーでは、電気部品・機構部品の故障について取り上げ、故障事例、故障メカニズム、各種部品ごとのウィークポイント、デバイス評価時のおさえどころについて、豊富な経験に基づき、様々な事例を交えて詳しく解説いたします。

本セミナーでは、電気・電子機器および電子部品の信頼性と安全性を高めることを目的に、設計・量産・販売後の各段階で、故障や事故を未然に防ぐための基本思想と実務で直面する課題への対策を体系的に解説いたします。
さらに、安全性の中でも特に重要となる「発火防止」については、講師がキヤノンで実践してきた取り組みをベースに、“発火を起こさないための安全設計手法”を事例とノウハウに基づき詳しく紹介いたします。

本セミナーでは、DRBFMの基礎から解説し、懸念点をすべて抽出する新たな品質情報ナレッジ化の進め方、および生成AIで重点管理項目抽出表、新規点・変更点一覧表、故障モード一覧表を作成する方法について詳解いたします。

本セミナーでは、高信頼性の製品を設計・評価するために、信頼性の基礎知識から信頼性加速試験の設定の仕方、特に製品の使われる環境での耐用寿命の推定の仕方を詳細に紹介いたします。

本セミナーでは、接触理論・アーク理論・摺動摩耗理論 、接点材料の変遷と勘所、 接点加工のプロセスと押さえどころ、接点の故障モード・発生機構、具体的な対策について、長年の経験と研究に基づき、実践的に詳しく解説いたします。

本セミナーでは、ディジタル信号処理の基礎から、音の特徴量の求め方までを平易に解説いたします。
また、故障検知への利用および故障予知への発展の方法へのアプローチを紹介いたします。

本セミナーでは、寿命をもつ電子部品の故障モード、電子部品に欠陥を内在した場合の寿命故障モード、寿命予測の考え方、部品ごとの寿命予測法について様々なやり方を実務的・現実的に、事例・データを交えて解説いたします。

ウィスカ (Whisker) は、鉛フリー化や新素材の採用が進む現代電子機器の信頼性を脅かす“再燃トラブル”です。
本セミナーでは、錫・亜鉛・鉛フリーはんだなど、各種ウィスカの発生原理を歴史的経緯から紐解き、内部応力・拡散・電気化学反応などの理論をもとに故障メカニズムを体系的に解説いたします。
さらに、実際の発生事例や最新の抑制・対策技術を通して、再発を防ぐための本質的歯止め策を解説いたします。

本セミナーでは、半導体デバイスの信頼性試験について取り上げ、ワイブルプロットによる寿命予測と確認信頼性試験計画について、図やイラストを交えて分かりやすく説明いたします。

本セミナーでは、各種の加速理論、故障モデル、寿命式、加速係数、寿命式、対数直線化、図法展開、重回帰分析・タグチメソッドを使った多数寿命因子のある故障の寿命推定式の求め方について、長年の経験に基づき、詳しく解説いたします。