技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、はんだ付け用フラックスの基礎から、はんだ付け不具合の発生理由や、マイグレーションが発生し易い理由とその対策について解説いたします。
はんだ付け用フラックスの基礎を述べた後、フラックス各成分とその役割を解説する。
これを元に、はんだ付け不具合の発生理由やLEDやパワーデバイスなど高温でマイグレーションが発生し易い理由とその対策を説明する。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/9/16 | ぬれ・接触角・表面張力入門 | オンライン | |
2025/9/17 | 電子機器の故障メカニズムと未然防止・故障解析のポイント | オンライン | |
2025/9/24 | FMEAへの生成AI導入と効果的な活用 | オンライン | |
2025/9/26 | はんだ実装技術とその周辺技術のおさえどころならびにその主要な故障・対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/9/26 | 信頼性基準適用試験の運用への落とし込みと (海外導入品など) 日本申請時の信頼性保証 | オンライン | |
2025/9/29 | TD-NMR (パルスNMR, LF-NMR) による分散性評価および粒子界面特性評価 | オンライン | |
2025/9/30 | TD-NMR (パルスNMR, LF-NMR) による分散性評価および粒子界面特性評価 | オンライン | |
2025/9/30 | 医薬品GMP・部外品・化粧品製造現場における「人為的誤り」管理戦略と「ミス削減」の実践成功事例 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/10/3 | なぜなぜ分析の実践 | 東京都 | オンライン |
2025/10/3 | FMEAへの生成AI導入と効果的な活用 | オンライン | |
2025/10/7 | 試験部門 (QC) におけるデータの電子化とインテグリティ対策 | オンライン | |
2025/10/7 | ぬれの基礎と実用的な撥水・撥油/親水処理技術の最新研究開発動向 | 愛知県 | 会場 |
2025/10/8 | 開閉接点・摺動接点・接続接点の接触理論と故障モード・メカニズムならびにその対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/10/8 | 業務手順書、作業手順書の作成・運用によるノウハウの継承 | オンライン | |
2025/10/14 | 医薬品GMP・部外品・化粧品製造現場における「人為的誤り」管理戦略と「ミス削減」の実践成功事例 | オンライン | |
2025/10/15 | トヨタ生産方式の重要ツール「なぜなぜ分析」の基礎と実践 | オンライン | |
2025/10/15 | 新製品の「生産立ち上げ」における必要な準備と品質確保のポイント | オンライン | |
2025/10/17 | 電気・電子部品の故障・事故の対策技術と未然防止のテクニック | オンライン | |
2025/10/17 | CMC部門・研究部門での電子実験ノート利用における規制の実務対応 | オンライン | |
2025/10/17 | アレニウスプロットの作成とその測定数値の取り扱い | オンライン |
発行年月 | |
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2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
2023/8/31 | “ぬれ性“の制御と表面処理・改質技術 |
2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2014/8/25 | ぬれ性のメカニズムと測定・制御技術 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2012/6/1 | 超撥水・超親水化のメカニズムとコントロール |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
2005/5/13 | BGA・CSP・フリップチップはんだ接合部の加速試験と信頼性評価法 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |