技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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不良・クレーム対策は事実をベースに原因を究明して除去する対策と、ハインリッヒの原則を製造現場で展開して不良・クレーム:ヒヤット=1:29の29をゼロ化する対策が要点です。 この原理を不良・クレームゼロ対策研究会で4年間21社と共に活動、①不良ゼロの再発防止、②最初から発生させない対策、③新製品開発段階からの不良ゼロ追及を進めてきた内容を解説させていただきます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2024/4/22 | 外観検査の概要、目視検査と自動検査の比較、その実際 | オンライン | |
2024/4/22 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2024/4/22 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
2024/4/23 | 技術・製品開発4大課題を解消するロバスト最適化開発法実践入門 | オンライン | |
2024/4/24 | 信頼性基準適用試験における運用への落とし込みと(国内外) 委託時の信頼性保証 | オンライン | |
2024/4/25 | 特許情報調査における検索式の考え方と実施ポイント | オンライン | |
2024/4/25 | 潜在ニーズを見つける具体的かつ体系的な活動 | オンライン | |
2024/4/26 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
2024/5/8 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2024/5/10 | IPランドスケープの取り組み事例と実施体制の構築 | オンライン | |
2024/5/13 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2024/5/13 | 設計者CAEのための材料力学 (理論と手計算) | オンライン | |
2024/5/14 | 間違いだらけの新規事業2024 | 東京都 | 会場・オンライン |
2024/5/15 | 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 | オンライン | |
2024/5/15 | ヒューマンエラー・ミスを防ぐための職場管理・作業管理方法と教育訓練 | オンライン | |
2024/5/17 | 加速試験の成り立ちと各種事例に基づく実践的な加速係数の求め方 | 東京都 | 会場・オンライン |
2024/5/20 | FMEAの必須知識と工程FMEAの実践手法 | オンライン | |
2024/5/20 | 信頼性物理に基づく信頼性試験技術 | オンライン | |
2024/5/20 | 技術者・研究者向けのプロジェクト進行における異文化教育・コミュニケーション能力向上のポイント | オンライン | |
2024/5/20 | 上流工程で品質を作り込むトラブル流出ゼロの品質管理手法 | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/2/28 | With・Afterコロナで生まれた新しい潜在・将来ニーズの発掘と新製品開発への応用 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2018/5/31 | “人工知能”の導入による生産性、効率性の向上、新製品開発への活用 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/7/16 | 「ロボット技術の用途、機能、構造等主要観点別開発動向と参入企業の強み、弱み分析」に関する技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
2013/7/16 | 「ロボット技術の用途、機能、構造等主要観点別開発動向と参入企業の強み、弱み分析」に関する技術開発実態分析調査報告書 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/3/27 | 医薬品・食品包装の設計と規制・規格動向 - 品質・安全・使用性向上のために - |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2010/10/28 | 薬物動態(「ヘ」項)試験におけるデータ・試験の信頼性確保・保証とQC・QA手法/タイミング |
2006/5/19 | クレーム対応のプロが教えるコツ |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |