技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー

SEM (Scanning Electron Microscope / 走査型電子顕微鏡)のセミナー・研修・出版物

異物分析の基礎と測定・解析の事例

2019年10月11日(金) 12時30分16時30分
大阪府 開催

本セミナーでは、異物分析について基礎から解説し、サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器 (顕微FT-IR、SEM-EDX) について原理・分析/解析のテクニックを事例を交えて解説いたします。

表面・界面分析手法の基礎と実務への活用

2019年3月29日(金) 12時30分16時30分
東京都 開催

本セミナーでは、X線光電子分光、赤外・ラマン散乱、和周波発生分光法、電子顕微鏡などを取り上げ、表面・界面分析手法について基礎から解説し、目的に応じた最適な測定方法の選定について、実際の分析事例をもとにわかりやすく解説いたします。

多様な微小部・表面・界面の分析技術と正しいデータ解釈

2016年3月15日(火) 10時30分16時30分
東京都 開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

めっきの基礎と膜形成・観察・解析技術

2015年12月24日(木) 12時30分16時30分
東京都 開催

本セミナーでは、めっきの基礎から解説し、電解めっき (Cu,Sn-Cu, Au,Ni) 、無電解めっき (Ni、ジンケ – ト処理) について課題や膜形成のポイントを解説いたします。

走査電子顕微鏡による食品の構造観察テクニック

2015年10月27日(火) 10時30分16時30分
東京都 開催

本セミナーでは、走査電子顕微鏡による観察の基礎から解説し、液体、乳化物、冷凍品の観察法、ステレオ観察法、酵素消化法によるグルテンの観察法、画像処理の実際について詳解いたします。

表面・微小部・深さ方向の分析と目的に応じた最適方法および正しいデータ解析

2014年4月25日(金) 10時30分16時30分
東京都 開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

半導体材料、デバイスの電子顕微鏡技術による解析法の基礎と試料作製法のポイント

2012年11月9日(金) 10時30分16時30分
大阪府 開催

本セミナーでは、各種電子顕微鏡の構造と原理、観察目的に応じた観察手法の選択などについてわかりやすく解説!TEM用薄片試料の作製方法、ノウハウについて詳解いたします。

透過電子顕微鏡による分析手法と試料作製の基礎を学ぶ

2012年7月31日(火) 10時30分16時30分
東京都 開催

本セミナーでは、材料開発や製造プロセス評価に欠かせない材料の構造/組成解析について、
より良い分析・画像データを取得するためのポイントについて、熟練の講師が基礎からみっちり解説いたします。

コンテンツ配信