tech-seminar.jp

本セミナーでは、表面、界面の基礎から、分析評価を中心にして、その姿を明らかにして利用するためのアプローチについて、技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、アプローチに方法まで応用アプリケーションの事例を交えて解説いたします。

本セミナーでは、X線光電子分光、赤外・ラマン散乱、和周波発生分光法、電子顕微鏡などを取り上げ、表面・界面分析手法について基礎から解説し、目的に応じた最適な測定方法の選定について、実際の分析事例をもとにわかりやすく解説いたします。

本セミナーでは、トライボロジーの基礎について、その実用・応用事例を組み合わせて初心者にもわかりやすく解説いたします。
事例には、広く実用化されている機械や普及している材料を扱い、講師が実践した事例やその過程で実施した観察・分析の実用技術、データ解析手法などが主に含むものとします。

本セミナーでは、機器分析の装置の測定原理、対象に応じてどのような機器分析装置を適用したらよいかを全体を網羅しながら解説いたします。

本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。

本セミナーでは、機器分析の装置の測定原理、対象に応じてどのような機器分析装置を適用したらよいかを全体を網羅しながら解説いたします。

本セミナーでは、異物分析における前処理技術から機器分析原理まで詳しく解説いたします。

本セミナーでは、表面、界面の基礎から、分析評価を中心にして、その姿を明らかにして利用するためのアプローチについて、技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、アプローチに方法まで応用アプリケーションの事例を交えて解説いたします。

本セミナーでは、異物分析における前処理技術から機器分析原理まで詳しく解説いたします。

本セミナーでは、異物分析における前処理技術から機器分析原理まで詳しく解説いたします。

本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。

本セミナーでは、SEM・EDS・EPMAを用いた電子部品の不具合解析について解説いたします。
また、各分析機器の原理・特徴・得手不得手などを学びつつ、情報量の最大化・高感度化にするためのノウハウを伝授いたします。
さらに、不具合箇所断面の鏡面研磨方法について、具体的な作業手順・ポイントにも言及いたします。

本セミナーでは、表面分析における試料準備・適切な前処理・データ解析技術、データ取り扱いや解析における時の注意点、誤った解析事例・最適な解析事例について、実際の分析事例をもとに詳解いたします。

本セミナーでは、異物分析について基礎から解説し、サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器 (顕微FT-IR、SEM-EDX) について原理・分析/解析のテクニックを事例を交えて解説いたします。