技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
アーカイブ配信で受講をご希望の場合、視聴期間は2025年9月29日〜10月10日を予定しております。
アーカイブ配信のお申し込みは2025年10月8日まで承ります。
本セミナーでは、表面分析の基礎から解説し、X線・電子・イオンの特性とそれらがサンプル表面と相互作用する仕組み、代表的な表面分析手法の原理や分析例、応用としてマッピングや深さ分析について解説いたします。
先端技術の粋が集められた表面分析装置は、ナノテクを中心とした技術開発に欠かせない存在です。分析の対象は、半導体素子、医薬品、など様々であり、その使用目的もプロセス開発、品質管理、など多岐にわたっています。
特に近年の表面分析装置はユーザーフレンドリーであり、比較的容易に相応の結果を得ることができます。その反面、いわゆるブラックボックス化が進んでいるため、表面分析の基礎や原理が蔑ろにされがちです。また、出力されたグラフや数値を確認しても、考察が不十分になる、他のデータとの不整合を見過ごす、等の問題が生じる可能性があります。そこで本セミナーでは、基礎事項として、サンプル表面に入射するX線、電子、イオンの特徴、これらと表面との相互作用、出力に至るまでの信号の流れ、等を分かり易く解説します。また、代表的な表面分析の原理や分析結果の例を紹介します。加えて、表面分析の応用として、マッピング、深さ分析について説明します。
R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
案内および割引をご希望される方は、お申込みの際、「案内の希望 (割引適用)」の欄から案内方法をご選択ください。
「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 45,000円(税別) / 49,500円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/1/16 | ぬれ性のメカニズムから理論に基づいた測定・評価・利用法 | オンライン | |
| 2026/1/19 | ぬれ性のメカニズムから理論に基づいた測定・評価・利用法 | オンライン | |
| 2026/1/21 | 接着制御・メカニズム解析の考え方と分析評価法 | オンライン | |
| 2026/1/26 | 溶解度パラメータ (SP値・HSP値) の基礎と活用法 | オンライン | |
| 2026/1/27 | 無機ナノ粒子の合成と表面処理・分散性向上 | オンライン | |
| 2026/1/28 | 無機ナノ粒子の合成と表面処理・分散性向上 | オンライン | |
| 2026/1/30 | 無機ナノ粒子の合成、表面処理・表面修飾と分散技術 | オンライン | |
| 2026/2/4 | 溶解度パラメータ (SP値・HSP値) の基礎と活用法 | オンライン | |
| 2026/2/10 | 接着制御・メカニズム解析の考え方と分析評価法 | オンライン | |
| 2026/2/16 | 無機ナノ粒子の合成、表面処理・表面修飾と分散技術 | オンライン | |
| 2026/3/6 | XPSの基礎と測定・解析テクニック | オンライン | |
| 2026/3/11 | X線光電子分光法 (XPS) の基礎と実務活用テクニック・ノウハウ | オンライン | |
| 2026/3/12 | 走査電子顕微鏡 (SEM・EDS) の基礎と異物解析のポイント | オンライン | |
| 2026/3/26 | TOF-SIMSの基礎と応用 | オンライン | |
| 2026/4/10 | TOF-SIMSの基礎と応用 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/3/31 | 電子顕微鏡〔2025年版〕技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2025/3/31 | 電子顕微鏡〔2025年版〕技術開発実態分析調査報告書 (書籍版) |
| 2023/8/31 | “ぬれ性“の制御と表面処理・改質技術 |
| 2014/8/25 | ぬれ性のメカニズムと測定・制御技術 |
| 2007/12/10 | 表面・深さ方向の分析方法 【新装版】 |