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車載用半導体の信頼性認定ガイドラインと要求品質、信頼性

車載用半導体の信頼性認定ガイドラインと要求品質、信頼性

東京都 開催 会場 開催
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概要

本セミナーでは車載用半導体について取り上げ、車載用で求められる品質・信頼性と民生品との違い、各種信頼性試験の特徴、問題点と押さえておくべき国際規格まで総合的に解説いたします。

開催日

  • 2019年3月14日(木) 10時00分 ～ 17時00分

プログラム

　半導体の信頼性認定ガイドラインとしては、米国ビッグ3が中心になって策定され、今や世界標準になりつつあるAEC-Q100/101があります。AEC-Q100は、車載用半導体集積回路を認定するための信頼性試験基準で、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価コストが膨大になるという問題があります。その一方で、日本発の車載認定ガイドラインとしてJEITA ED-4708が2011年に発行され、2017年7月にIEC で国際標準化 (IEC 60749-43) されました。
　本セミナーでは、AEC-Q100に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、対応方法について概説します。また、IEC化された日本版のAEC-Q100規格EDR-4708について、使い方について詳細に説明します。更に、車載用半導体を製造、販売するにあたって知っておくべき国際規格として、品質システムではTS16949、工程監査ではVDA6.3等の規格があり、独LV324等も注目されています。これらの車載用集積回路認定ガイドラインの動向、各種信頼性試験の必要性と問題点と知っておくべき国際規格についても、概説します。

  1. 車載用半導体集積回路の動向
    1. 車載用半導体集積回路の技術動向
      • 民生品との品質、信頼性レベルの違い
  2. 車載用半導体に要求される信頼性
    1. 加速性に基づいた必要信頼性試験条件
      • 温度加速、湿度加速、電圧加速、温度差加速の考え方
    2. 事例紹介
      • 実際の加速率、信頼性レベルの計算例の紹介
  3. 半導体集積回路の認定ガイドラインの説明
    1. AEC-Q100の内容と考え方
      • 試験の進め方、条件、問題点
    2. JEITA ED-4708の内容と考え方
      • 品質保証の考え方、サンプル数、試験条件の考え方
    3. 国際標準化の状況について
      • 今後の車載認定規格の方向性
  4. ミッションプロファイルを用いた信頼性試験設計
    • 高温保証におけるデバイスの信頼性保証の考え方
  5. 車載用半導体に要求される品質システム
    • TS16949、VDA6.3、ISO26262、LV324等の規格概説
  6. 国際規格の動向
    1. AQC-Q100/101、LV324等国際車載規格の動向
    2. 国内の規格作成動向と国際規格化の動向
    • 質疑応答
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講師

  • 瀬戸屋 孝 氏
    一般社団法人 日本電子部品信頼性センター
    運営委員
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会場

株式会社 技術情報協会
東京都 品川区 西五反田2-29-5 日幸五反田ビル8F
株式会社 技術情報協会の地図
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主催

株式会社 技術情報協会
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 50,000円 (税別) / 54,000円 (税込)
複数名
: 45,000円 (税別) / 48,600円 (税込)

複数名同時受講割引について

  • 2名様以上でお申込みの場合、
    1名あたり 45,000円(税別) / 48,600円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 50,000円(税別) / 54,000円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 90,000円(税別) / 97,200円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 135,000円(税別) / 145,800円(税込)
  • 同一法人内による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 他の割引は併用できません。
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