技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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最近、電子回路商品のコスト競争が激しく如何に品質を落とさずにコストダウンを行うかで回路設計者は日々悩んでおられるかと思います。そのような状況で、海外の安い電子部品を使ったために、パソコンの早期トラブルが起こったり、テレビが燃えたりなど短寿命や不安全のトラブルが顕在化しています。
そこで、本セミナーでは電子部品の評価の仕方を学んでいただき、その故障がいつ起こるのか、その故障確率はどのくらいになるのかを解説いたします。電子部品の故障時間、故障確率がわかれば、電子回路としての故障時間、故障確率も簡単に推定できますので、あわせて解説いたします。
また、電子回路商品の発火問題についても学んでいただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/1/30 | 半導体・回路素子における劣化寿命の故障モード・構造因子とその予測法 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/1/30 | 量産に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバスト最適化 / 非線形ロバストデザイン | オンライン | |
| 2026/2/4 | どんどん必要になる「グリーン調達」実践講座 | オンライン | |
| 2026/2/6 | セラミックスの破壊メカニズムと強度試験・信頼性評価 | オンライン | |
| 2026/2/9 | 実装状態での電子部品・基板の品質不具合に対する故障解析力・解決力の向上 | オンライン | |
| 2026/2/13 | 疲労強度と破壊力学による強度設計基礎から損傷許容設計適用 | オンライン | |
| 2026/2/13 | AI外観検査 (画像認識) のはじめ方、すすめ方、精度の向上 | オンライン | |
| 2026/2/17 | セラミックスの破壊メカニズムと強度試験・信頼性評価 | オンライン | |
| 2026/2/18 | なぜなぜ分析の実践法と根本原因の体系的究明手法 | オンライン | |
| 2026/2/19 | 民生用電子部品の宇宙ビジネスへの転用と評価技術 | オンライン | |
| 2026/2/20 | 市場クレームとその影響、対応コストを考慮した損失関数による安全係数・検査基準・規格値の決定法 | オンライン | |
| 2026/2/25 | 信頼性を左右する故障メカニズム51 | オンライン | |
| 2026/2/26 | FMEA / FTA / DRBFM (不具合未然防止) の基本と実践 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 食品開発・品質管理に役立つ官能評価の基礎と実践 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 信頼性を左右する故障メカニズム51 | オンライン | |
| 2026/2/27 | 未知の不良や異常も検知する検査・センシング・モニタリングに適した人工知能 | オンライン | |
| 2026/3/2 | 周辺視目視検査法による外観検査の上手な進め方 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/3/2 | サンプリング試験 (抜取検査) の全体像を把握し適切に設計・運用する具体的ノウハウ | オンライン | |
| 2026/3/2 | 未知の不良や異常も検知する検査・センシング・モニタリングに適した人工知能 | オンライン | |
| 2026/3/3 | 民生用電子部品の宇宙ビジネスへの転用と評価技術 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2014/1/25 | 京セラ〔2014年版〕 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2014/1/25 | 京セラ〔2014年版〕 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2012/3/10 | 中堅電子部品12社 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2011/10/5 | 電子部品大手8社 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2011/10/3 | '12 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
| 2010/10/1 | '11 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
| 2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |