SEM (Scanning Electron Microscope / 走査型電子顕微鏡) - セミナー・研修・出版物

SEM (Scanning Electron Microscope / 走査型電子顕微鏡)のセミナー・研修・出版物

2015年12月24日(木) 12時30分～ 16時30分

東京都開催会場開催

本セミナーでは、めっきの基礎から解説し、電解めっき (Cu,Sn-Cu, Au,Ni) 、無電解めっき (Ni、ジンケ – ト処理) について課題や膜形成のポイントを解説いたします。

2015年11月26日(木) 10時30分～ 16時30分

東京都開催会場開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

2015年10月27日(火) 10時30分～ 16時30分

東京都開催会場開催

本セミナーでは、走査電子顕微鏡による観察の基礎から解説し、液体、乳化物、冷凍品の観察法、ステレオ観察法、酵素消化法によるグルテンの観察法、画像処理の実際について詳解いたします。

2014年4月25日(金) 10時30分～ 16時30分

東京都開催会場開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

2012年11月9日(金) 10時30分～ 16時30分

大阪府開催会場開催

本セミナーでは、各種電子顕微鏡の構造と原理、観察目的に応じた観察手法の選択などについてわかりやすく解説!TEM用薄片試料の作製方法、ノウハウについて詳解いたします。

2012年7月31日(火) 10時30分～ 16時30分

東京都開催会場開催

本セミナーでは、材料開発や製造プロセス評価に欠かせない材料の構造/組成解析について、
より良い分析・画像データを取得するためのポイントについて、熟練の講師が基礎からみっちり解説いたします。

2010年12月8日(水) 10時30分～ 16時30分

東京都開催会場開催

本セミナーでは、高分子材料表面の外観不良原因を解明した事例を多く取り上げ、表面外観不良を防止する施策を詳解いたします。