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SEM (Scanning Electron Microscope / 走査型電子顕微鏡)のセミナー・研修・出版物

表面分析技術の基礎と応用

2016年7月21日(木) 13時00分 ～ 16時00分
東京都 開催 会場 開催

多様な微小部・表面・界面の分析技術と正しいデータ解釈

2016年3月15日(火) 10時30分 ～ 16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

めっきの基礎と膜形成・観察・解析技術

2015年12月24日(木) 12時30分 ～ 16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、めっきの基礎から解説し、電解めっき (Cu,Sn-Cu, Au,Ni) 、無電解めっき (Ni、ジンケ – ト処理) について課題や膜形成のポイントを解説いたします。

表面・微小部・深さ方向の分析と試料前処理およびデータの真実・非真実を見抜く養成講座

2015年11月26日(木) 10時30分 ～ 16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

走査電子顕微鏡による食品の構造観察テクニック

2015年10月27日(火) 10時30分 ～ 16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、走査電子顕微鏡による観察の基礎から解説し、液体、乳化物、冷凍品の観察法、ステレオ観察法、酵素消化法によるグルテンの観察法、画像処理の実際について詳解いたします。

表面・微小部・深さ方向の分析と目的に応じた最適方法および正しいデータ解析

2014年4月25日(金) 10時30分 ～ 16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

半導体材料、デバイスの電子顕微鏡技術による解析法の基礎と試料作製法のポイント

2012年11月9日(金) 10時30分 ～ 16時30分
大阪府 開催 会場 開催

本セミナーでは、各種電子顕微鏡の構造と原理、観察目的に応じた観察手法の選択などについてわかりやすく解説!TEM用薄片試料の作製方法、ノウハウについて詳解いたします。

透過電子顕微鏡による分析手法と試料作製の基礎を学ぶ

2012年7月31日(火) 10時30分 ～ 16時30分
東京都 開催 会場 開催

本セミナーでは、材料開発や製造プロセス評価に欠かせない材料の構造/組成解析について、
より良い分析・画像データを取得するためのポイントについて、熟練の講師が基礎からみっちり解説いたします。

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