技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー

表面・微小部・深さ方向の分析と試料前処理およびデータの真実・非真実を見抜く養成講座

表面・微小部・深さ方向の分析と試料前処理およびデータの真実・非真実を見抜く養成講座

~適切な手法の選択・利用と得られたデータを見極める~
東京都 開催 会場 開催

概要

本セミナーでは、表面・微小部・深さ方向の分析について基礎から解説し、データ分析法の有効利用について詳解いたします。

開催日

  • 2015年11月26日(木) 10時30分 16時30分

受講対象者

  • 表面・微小部・深さ方向の分析に関連する技術者、開発者
    • 材料開発
    • 故障解析
    • 表面分析など

修得知識

  • 多くの分析法に用いられる電子、イオン、X線などの性質
  • 各種分析法の特徴
  • 多様なデータの意味合いと真実性の理解
  • 最近の自動化されブラックボックス化された分析装置がもたらすデータの真実性と間違いを見抜く力
  • 空間分解能の正しい理解と正しい判断力

プログラム

 多くの進化した工業材料や機能素子は、ミクロン~ナノの表面・微小部の集合体と言える。これらの開発・品質管理に、いろいろな多種のマイクロアナライザーや表面分析装置が用いられているが、どれが目的にかなっているかの判断は簡単ではない。
 また、それらの装置の多くはパソコン操作により自動で綺麗なデータが得られるようになっているが、そのミクロン~ナノ~原子の世界の真実を本当に視ているのであろうか。 ブラックボックス化された装置の中を覗いてみると、いろいろな落とし穴が潜んでいる。
 分析原理・試料作製・装置構成・操作がもたらす真実・非真実を見抜く力を養成する。

  1. 機能材料・精細部品・構築材料が求める高度な品質
    1. 表面・微小部・深さ分析に求めるもの
    2. 何が分かるか、どこまで分かるか?
  2. 表面・微小部・深さ方向のさまざまな分析法
    1. 電子の振る舞いと試料との相互作用
    2. イオンの振る舞いと試料との相互作用
    3. X線の振る舞いと試料との相互作用
    4. さまざまな分析法
  3. 特に汎用性のある分析法の特徴と比較
    1. SEM – EDX、EPMA、AES、SIMS、XPSの特徴と比較
    2. 様々な分析法の特徴と比較
    3. 分析法比較の注意と落とし穴
  4. 試料前処理の注意
    1. 分析対象の維持と試料保管中・試料作成中の汚染対策
    2. 真空と表面
  5. スペクトルの意味するもの
    1. 電子スペクトルの特徴と注意
    2. イオンスペクトルの特徴と注意
    3. X線スペクトルの特徴と注意
  6. 空間分解能
    1. 空間分解能とは? その重要性
    2. 空間分解能は何によって決まり、どのように分析データに反映するか?
    3. 走査像の分解能
    4. 様々な事例
    5. 空間分解能の落とし穴
  7. 最先端の分析技術の紹介
    1. 顕微メスバウア法による極微量鉄の原子状態分析
    • 質疑応答・名刺交換

講師

  • 副島 啓義
    株式会社 応用科学研究所
    代表取締役

会場

品川区立総合区民会館 きゅりあん

5F 第1講習室

東京都 品川区 東大井5丁目18-1
品川区立総合区民会館 きゅりあんの地図

主催

お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 42,750円 (税別) / 46,170円 (税込)
複数名
: 22,500円 (税別) / 24,300円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名様以上でお申込みの場合、
    1名あたり 22,500円(税別) / 24,300円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 42,750円(税別) / 46,170円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 45,000円(税別) / 48,600円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 67,500円(税別) / 72,900円(税込)
  • 受講者全員が会員登録をしていただいた場合に限ります。
  • 同一法人内(グループ会社でも可)による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
    申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。
  • 他の割引は併用できません。
本セミナーは終了いたしました。

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2024/12/3 材料表面への (超) 撥水性・ (超) 親水性の付与技術と制御および分析・評価、応用技術 オンライン
2024/12/6 X線光電子分光法 (XPS、ESCA) の原理と測定条件の設定、データ解析法 オンライン
2024/12/9 FT-IR測定・同定の実務実践とアプリケーションテクニック・コツ オンライン
2024/12/9 ぬれ・接触角の基礎と測定・評価 オンライン
2024/12/16 X線光電子分光法 (XPS、ESCA) の原理と測定条件の設定、データ解析法 オンライン
2024/12/19 近赤外分光法の基礎と材料等の分析への応用 オンライン
2024/12/20 ICP-MSの原理、特長および測定でのポイントとトラブルシューティング オンライン
2024/12/20 TOF-SIMSの基礎と応用 オンライン
2024/12/24 表面ぬれ性のメカニズムとその制御、接触角の測定 オンライン
2024/12/27 近赤外分光法の基礎と材料等の分析への応用 オンライン
2025/1/10 ICP-MSの原理、特長および測定でのポイントとトラブルシューティング オンライン
2025/1/10 TOF-SIMSの基礎と応用 オンライン
2025/1/16 各種電子部品の故障メカニズムとその特定・解析、不良対策 オンライン
2025/2/21 表面処理・分析/接着分析 2日間講座 オンライン
2025/2/21 高機能化、高性能化のための表面処理法の基礎と表面分析法 オンライン
2025/3/24 接着制御・メカニズム解析の考え方と分析評価法 オンライン
2025/12/5 無機ナノ粒子の合成と表面処理・分散性向上 オンライン
2025/12/18 無機ナノ粒子の合成と表面処理・分散性向上 オンライン