技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
FIB (Focused Ion Beam / 集束イオンビーム)のセミナー・研修・出版物
めっきの基礎と膜形成・観察・解析技術
2015年12月24日(木) 12時30分
～
16時30分
東京都 開催
会場 開催
本セミナーでは、めっきの基礎から解説し、電解めっき (Cu,Sn-Cu, Au,Ni) 、無電解めっき (Ni、ジンケ – ト処理) について課題や膜形成のポイントを解説いたします。
