技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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異物不良がなくならないのは、「目に見えない」、「異物に関する知識がない」、「異物不良をゼロにするアプローチを知らない」からです。講師は33年のコンサルティングにおいて、38の発生源と6つの伝達経路を見つけ、実際に異物不良をゼロにすることにより277の経験則を体系化し、「異物不良ゼロへアプローチ」を創り出しました。その範囲は、半導体、液晶、電子部品、自動車、窯業、家電、精密機械、プラスチック成形、金属加工、金型と一般エリアからクリーンルームまで全範囲に及びます。「異物ゼロへのアプローチ」を使えば、異物不良はゼロにできます。
本セミナーでは、基本的な知識を学んで頂き、質問票に答えて頂くことにより、自社 (自職場) に必要な異物対策を立案します。その後、必要な異物対策の概要を学んで頂き、自社 (自職場) に帰って、即、実行できるように構成してあります。本セミナーを受けて頂き、長年悩み、結果、あきらめていた異物不良をゼロにして下さい。また、これからクリーンルームを立ち上げる方々は高歩留りでスムーズに立ち上げる基礎知識と事前対策の方法を学んで下さい。
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「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 42,000円(税別) / 46,200円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/1/26 | 医薬品製造におけるバリデーション対応とQ&A | オンライン | |
| 2026/1/26 | 生成AI時代のパテントマップ実践法 | オンライン | |
| 2026/1/26 | 製薬用水設備における設計・管理・バリデーションと適格性評価の注意点 | オンライン | |
| 2026/1/26 | 外観検査 (2日間) | オンライン | |
| 2026/1/26 | AI外観検査 (画像認識) のはじめ方、すすめ方、精度の向上 | オンライン | |
| 2026/1/26 | Pythonを用いた実験計画法とその最適化 | オンライン | |
| 2026/1/27 | 外観検査における目視検査 & 自動検査での品質チェック・ノウハウ | オンライン | |
| 2026/1/27 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/1/27 | 承認申請プロセスに関わるPMDA提出資料 (CTD/照会事項回答) 作成のポイント | オンライン | |
| 2026/1/27 | 製薬用水設備における設計・管理・バリデーションと適格性評価の注意点 | オンライン | |
| 2026/1/27 | 事業化を成功させる化学プロセス開発・設計における最適化への要点 | オンライン | |
| 2026/1/28 | 暗黙知の可視化、技術・技能伝承へのAI活用とそのポイント | オンライン | |
| 2026/1/28 | Excelによる蒸留の基礎と蒸留技術計算への応用 | オンライン | |
| 2026/1/28 | ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/1/28 | 中国工場での製品・部品不良の未然防止 中国企業とのトラブル・ミスコミュニケーション回避術 | オンライン | |
| 2026/1/28 | データ分析およびAIエージェントの基礎と活用に向けたポイント | オンライン | |
| 2026/1/29 | デザインレビュー (DR) の基本とすすめ方、抜け漏れ防止策 | オンライン | |
| 2026/1/29 | 承認申請プロセスに関わるPMDA提出資料 (CTD/照会事項回答) 作成のポイント | オンライン | |
| 2026/1/29 | 米国・カナダ・ブラジル・オーストラリア・韓国・欧州の医療機器規制入門セミナー | オンライン | |
| 2026/1/29 | 生成AI・機械学習を活用した特許 (技術) 調査・分析と技術マーケティングへの応用 (2日間) | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2013/1/28 | 造粒・打錠プロセスにおけるトラブル対策とスケールアップの進め方 |
| 2012/9/4 | 食と健康の高安全化 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |