技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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異物不良がなくならないのは、「目に見えない」、「異物に関する知識がない」、「異物不良をゼロにするアプローチを知らない」からです。講師は33年のコンサルティングにおいて、38の発生源と6つの伝達経路を見つけ、実際に異物不良をゼロにすることにより277の経験則を体系化し、「異物不良ゼロへアプローチ」を創り出しました。その範囲は、半導体、液晶、電子部品、自動車、窯業、家電、精密機械、プラスチック成形、金属加工、金型と一般エリアからクリーンルームまで全範囲に及びます。「異物ゼロへのアプローチ」を使えば、異物不良はゼロにできます。
本セミナーでは、基本的な知識を学んで頂き、質問票に答えて頂くことにより、自社 (自職場) に必要な異物対策を立案します。その後、必要な異物対策の概要を学んで頂き、自社 (自職場) に帰って、即、実行できるように構成してあります。本セミナーを受けて頂き、長年悩み、結果、あきらめていた異物不良をゼロにして下さい。また、これからクリーンルームを立ち上げる方々は高歩留りでスムーズに立ち上げる基礎知識と事前対策の方法を学んで下さい。
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「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 42,000円(税別) / 46,200円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/2/25 | データ分析のポイントと生成AIの活用 | オンライン | |
| 2026/2/25 | 信頼性を左右する故障メカニズム51 | オンライン | |
| 2026/2/25 | 医薬品の特許権利化と知財戦略 基礎講座 | オンライン | |
| 2026/2/25 | 生成AIと知的財産で実現する新規用途探索・アイデア発掘実践講座 | オンライン | |
| 2026/2/26 | FMEA / FTA / DRBFM (不具合未然防止) の基本と実践 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 食品開発・品質管理に役立つ官能評価の基礎と実践 | オンライン | |
| 2026/2/26 | AIエージェント×ビジネスデータ分析の基礎と実践 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 信頼性を左右する故障メカニズム51 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 生成AIによる特許調査・分析の現状と実務への適用 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 生成AIを活用した研究データ解析と可視化手法 | オンライン | |
| 2026/2/26 | マテリアルズインフォマティクスの動向と少ないデータへの適用事例 | オンライン | |
| 2026/2/26 | AIによる二軸押出機の予兆検知・異常兆候把握とデータ活用 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 生成AIと知的財産で実現する新規用途探索・アイデア発掘実践講座 | オンライン | |
| 2026/2/27 | 未知の不良や異常も検知する検査・センシング・モニタリングに適した人工知能 | オンライン | |
| 2026/3/2 | 周辺視目視検査法による外観検査の上手な進め方 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/3/2 | サンプリング試験 (抜取検査) の全体像を把握し適切に設計・運用する具体的ノウハウ | オンライン | |
| 2026/3/2 | 未知の不良や異常も検知する検査・センシング・モニタリングに適した人工知能 | オンライン | |
| 2026/3/2 | マテリアルズインフォマティクスの動向と少ないデータへの適用事例 | オンライン | |
| 2026/3/2 | 医薬品の特許権利化と知財戦略 基礎講座 | オンライン | |
| 2026/3/3 | AIエージェントを活用したマーケティングの実践 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2013/1/28 | 造粒・打錠プロセスにおけるトラブル対策とスケールアップの進め方 |
| 2012/9/4 | 食と健康の高安全化 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |