技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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異物不良がなくならないのは、「目に見えない」、「異物に関する知識がない」、「異物不良をゼロにするアプローチを知らない」からです。講師は33年のコンサルティングにおいて、38の発生源と6つの伝達経路を見つけ、実際に異物不良をゼロにすることにより277の経験則を体系化し、「異物不良ゼロへアプローチ」を創り出しました。その範囲は、半導体、液晶、電子部品、自動車、窯業、家電、精密機械、プラスチック成形、金属加工、金型と一般エリアからクリーンルームまで全範囲に及びます。「異物ゼロへのアプローチ」を使えば、異物不良はゼロにできます。
本セミナーでは、基本的な知識を学んで頂き、質問票に答えて頂くことにより、自社 (自職場) に必要な異物対策を立案します。その後、必要な異物対策の概要を学んで頂き、自社 (自職場) に帰って、即、実行できるように構成してあります。本セミナーを受けて頂き、長年悩み、結果、あきらめていた異物不良をゼロにして下さい。また、これからクリーンルームを立ち上げる方々は高歩留りでスムーズに立ち上げる基礎知識と事前対策の方法を学んで下さい。
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案内および割引をご希望される方は、お申込みの際、「案内の希望 (割引適用)」の欄から案内方法をご選択ください。
「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 42,000円(税別) / 46,200円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/10/23 | 生成AIを活用した発明の言語化と国内・国際特許出願の進め方 | オンライン | |
| 2026/10/23 | 機械学習を活用したスペクトルデータ解析の基礎と材料研究への応用 | オンライン | |
| 2026/10/26 | ウィスカの発生メカニズム・故障解析と未然防止・再発防止策 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/10/26 | 基礎から学ぶ生成AIによる業務改善 | オンライン | |
| 2026/10/26 | 半導体洗浄の基礎・現象と洗浄機内の流れと反応、洗浄の評価方法および困った時の対策 | オンライン | |
| 2026/10/26 | 業務手順書、作業手順書の作成・運用によるノウハウの継承 | オンライン | |
| 2026/10/26 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
| 2026/10/26 | 半導体製造における各種汚染の影響と洗浄技術の基礎および技術トレンド | オンライン | |
| 2026/10/26 | ラマン分光法の原理、特性と実務に向けた分析テクニック | オンライン | |
| 2026/10/27 | 産業現場への実装を起点としたニューラルネットおよび強化学習の原理と活用方法 | オンライン | |
| 2026/10/27 | 設計標準化の実践と仕組みづくり | オンライン | |
| 2026/10/27 | 製造現場における正常/異常判定の考え方とデータ解析結果の使いこなし方 | オンライン | |
| 2026/10/27 | 粉体プロセスのトラブル発生事例とその対策 | オンライン | |
| 2026/10/27 | FMEA・DRBFMのあるべき姿、その使い方と効率の良い作成法 | オンライン | |
| 2026/10/27 | 医薬品工場の計画・設備設計及びバリデーションの進め方とトラブル事例 | オンライン | |
| 2026/10/27 | 製造現場における画像処理AIの活用と内製化のポイント | オンライン | |
| 2026/10/27 | 半導体製造における各種汚染の影響と洗浄技術の基礎および技術トレンド | オンライン | |
| 2026/10/27 | 研究開発 (R&D) のためのデータ解析実践 | オンライン | |
| 2026/10/27 | AI活用によるイノベーション創造理論プログラム | オンライン | |
| 2026/10/28 | 研究開発者・技術者のための因果推論入門 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2013/1/28 | 造粒・打錠プロセスにおけるトラブル対策とスケールアップの進め方 |
| 2012/9/4 | 食と健康の高安全化 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |