技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、電子部品・電子機器の信頼性・故障に関する基礎知識と実際に行われている未然防止法と故障解析を、事例を用いて説明いたします。
電子機器・部品の品質、信頼性は国内産業を支えとなっているが、これを達成するために企業では故障の未然防止や故障解析に大変な努力をしている。しかしながら、この技術の習得は一朝一夕にはできず、新規参入の企業や技術者にとって頭の痛い問題である。
この技術を早期に習得するためには故障に関するモデルやメカニズムの理解により経験を補うことと、実際に行われている未然防止法 (信頼性の作りこみ) 、評価・解析法、および信頼性試験を把握し、適用することが重要である。
以上のことから、本セミナーでは故障に関する基礎知識と実際に行われている未然防止法と故障解析を、事例を多く用いて、初級者にも理解しやすいように説明する。
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複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/3/6 | 高速回路 (Mbps〜Gbps級) の基本と実装設計への展開 | オンライン | |
2025/3/7 | 実験計画法の基礎からタグチメソッドの応用まで | オンライン | |
2025/3/11 | FTA / FMEA / DRBFMの作成・運用方法 | オンライン | |
2025/3/11 | 「安全係数と検査基準・規格値」決定法 | オンライン | |
2025/3/12 | GPTsを用いて過去トラ・ノウハウを開発に活かす方法 | オンライン | |
2025/3/12 | 品質向上のための実践的な製品設計と品質問題の防止 | オンライン | |
2025/3/12 | 基板放熱による熱設計のポイントと対策 | オンライン | |
2025/3/12 | 高速回路 (Mbps〜Gbps級) の基本と実装設計への展開 | オンライン | |
2025/3/13 | 最新の実装技術に対応した放熱設計の進化 | オンライン | |
2025/3/14 | 実験計画法の基礎からタグチメソッドの応用まで | オンライン | |
2025/3/14 | 信頼性基準適用試験における運用への落とし込み・記録の残し方と (国内外) 委託時の信頼性保証 | オンライン | |
2025/3/14 | 量産に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバスト最適化 / 非線形ロバストデザイン | オンライン | |
2025/3/17 | 信頼性の基礎 (2日間) | オンライン | |
2025/3/17 | 信頼性の基礎 (1) | オンライン | |
2025/3/18 | 信頼性の基礎と加速試験の進め方および試験結果の活用法 | オンライン | |
2025/3/18 | GLP省令:施設/試験で押さえるべき信頼性確保と最終報告書・生データの信頼性 | オンライン | |
2025/3/19 | 半導体・回路素子・電子部品における劣化寿命の故障モード・因子とその故障の寿命点 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/3/19 | ChatGPTによる生産管理の効率化と活用、運用のポイント | オンライン | |
2025/3/19 | EV・HEV車載機器における冷却技術の基礎と対策事例 | オンライン | |
2025/3/19 | 「安全係数と検査基準・規格値」決定法 | オンライン |
発行年月 | |
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2009/5/20 | 日本電気と富士通2社分析 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
2003/11/18 | LSI設計の実戦ノウハウとプロセス知識 |
1999/10/29 | DRAM混載システムLSI技術 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1990/9/1 | LSI樹脂封止材料・技術 |
1990/6/1 | LSI周辺金属材料・技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/10/1 | 高密度表面実装 (SMT) におけるLSIパッケージング技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
1985/12/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅰ) |
1985/11/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅱ) |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |