技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
近年、電子機器製品の短寿命や発火・発煙トラブルなど大きな市場トラブルが見受けられます。メーカでは市場で問題が生じないようにいろいろな信頼性試験が実施されていますが、トラブル撲滅へうまくつながっていないのが現状です。原因の一つに、試験の方法 (市場環境を適切に想定したか?) と、試験結果の解析 (測定データやロットのバラツキを考慮したか?) が考えられます。
そこで、本セミナーでは市場トラブル原因の一つと考えられる試験データの解析の仕方をトラブル撲滅の観点から詳細に解説し、その解析手法やそのポイントを伝授します。
その結果、市場での製品の故障時期と故障の確率が予測でき、目標と合致していない場合はその部材・部位、即ち改善すべき対象を明確にすることでトラブルの未然防止ができるようになります。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
---|---|---|---|
2025/3/26 | 品質機能展開 (QFD) の基本と実践的活用法 | オンライン | |
2025/3/26 | 電子実験ノートの導入とデータ共有・利活用ノウハウ | オンライン | |
2025/3/26 | ISO 13485:2016の要求事項に有効な統計的手法とそのサンプルサイズの計算法 | オンライン | |
2025/3/28 | 高分子材料のレオロジー (粘弾性) の基礎と動的粘弾性測定 | オンライン | |
2025/3/28 | 分析法バリデーション 統計解析入門と分析能パラメータの計算法 | オンライン | |
2025/3/28 | QC工程表・作業標準書の作り方 | オンライン | |
2025/3/28 | 固体高分子の破壊とタフニング | オンライン | |
2025/3/28 | 非統計家への分析法バリデーションに必要となる統計解析の基礎と実践 | オンライン | |
2025/3/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見 + 問題解決) | オンライン | |
2025/3/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題解決) | オンライン | |
2025/3/28 | 分析法バリデーションにおける基準値設定と分析法変更・技術移転時の同等性評価 | オンライン | |
2025/3/31 | 実験・測定に必要な統計の基礎とデータ解析のポイント | オンライン | |
2025/3/31 | 周辺視目視検査法による外観検査の上手な進め方 | オンライン | |
2025/3/31 | Excel・Pythonで学ぶ製造業向けデータ解析と実務への応用 | オンライン | |
2025/3/31 | セラミックスの破壊規準と強度信頼性評価の基礎 | オンライン | |
2025/3/31 | 抜取検査 | オンライン | |
2025/3/31 | 短期にソフトウェア品質を良くする「人間重視の品質改善術」 | オンライン | |
2025/4/3 | 半導体、回路基板、電子機器における各種部材トラブルのメカニズム、対策、解析 | オンライン | |
2025/4/3 | ISO 13485:2016が要求する医療機器サンプルサイズの根拠を伴う統計学的手法 (全2コース) | オンライン | |
2025/4/3 | ISO 13485:2016が要求する医療機器サンプルサイズの根拠を伴う統計学的手法 (Aコース 基礎編) | オンライン |
発行年月 | |
---|---|
2014/1/25 | 京セラ〔2014年版〕 技術開発実態分析調査報告書 |
2014/1/25 | 京セラ〔2014年版〕 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2012/3/10 | 中堅電子部品12社 技術開発実態分析調査報告書 |
2011/10/5 | 電子部品大手8社 技術開発実態分析調査報告書 |
2011/10/3 | '12 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
2010/10/1 | '11 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |