技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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近年、電子機器製品の短寿命や発火・発煙トラブルなど大きな市場トラブルが見受けられます。メーカでは市場で問題が生じないようにいろいろな信頼性試験が実施されていますが、トラブル撲滅へうまくつながっていないのが現状です。原因の一つに、試験の方法 (市場環境を適切に想定したか?) と、試験結果の解析 (測定データやロットのバラツキを考慮したか?) が考えられます。
そこで、本セミナーでは市場トラブル原因の一つと考えられる試験データの解析の仕方をトラブル撲滅の観点から詳細に解説し、その解析手法やそのポイントを伝授します。
その結果、市場での製品の故障時期と故障の確率が予測でき、目標と合致していない場合はその部材・部位、即ち改善すべき対象を明確にすることでトラブルの未然防止ができるようになります。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/2/13 | AI外観検査 (画像認識) のはじめ方、すすめ方、精度の向上 | オンライン | |
| 2026/2/16 | 体外診断用医薬品の性能評価に必須の統計解析基礎講座 | オンライン | |
| 2026/2/16 | 生成AIを活用した研究データ解析と可視化手法 | オンライン | |
| 2026/2/16 | 経営意思決定に必要な「原価計算」入門 | オンライン | |
| 2026/2/17 | 実験計画法 入門講座 | オンライン | |
| 2026/2/17 | セラミックスの破壊メカニズムと強度試験・信頼性評価 | オンライン | |
| 2026/2/18 | なぜなぜ分析の実践法と根本原因の体系的究明手法 | オンライン | |
| 2026/2/18 | 経営意思決定に必要な「原価計算」入門 | オンライン | |
| 2026/2/19 | R&D部門のデータ共有・利活用 (MI, AI) のためのデータ共有システム構築と進め方 | オンライン | |
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| 2026/2/19 | Excelを用いる蒸留の理論と計算 | オンライン | |
| 2026/2/19 | 民生用電子部品の宇宙ビジネスへの転用と評価技術 | オンライン | |
| 2026/2/20 | 市場クレームとその影響、対応コストを考慮した損失関数による安全係数・検査基準・規格値の決定法 | オンライン | |
| 2026/2/20 | ICH新ガイドラインに対応する分析法開発と分析法バリデーションの基礎と実践 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/2/25 | 信頼性を左右する故障メカニズム51 | オンライン | |
| 2026/2/26 | FMEA / FTA / DRBFM (不具合未然防止) の基本と実践 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 食品開発・品質管理に役立つ官能評価の基礎と実践 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 信頼性を左右する故障メカニズム51 | オンライン | |
| 2026/2/26 | Excelを使った伝熱計算実習付き講座 | オンライン | |
| 2026/2/26 | 実務に役立つ統計解析の基本と活用 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2014/10/24 | 2015年版 コンデンサ市場・部材の実態と将来展望 |
| 2014/1/25 | 京セラ〔2014年版〕 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2014/1/25 | 京セラ〔2014年版〕 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2012/3/10 | 中堅電子部品12社 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2011/10/5 | 電子部品大手8社 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2011/10/3 | '12 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
| 2010/10/1 | '11 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
| 2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |