技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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近年、電子機器製品の短寿命や発火・発煙トラブルなど大きな市場トラブルが見受けられます。メーカでは市場で問題が生じないようにいろいろな信頼性試験が実施されていますが、トラブル撲滅へうまくつながっていないのが現状です。原因の一つに、試験の方法 (市場環境を適切に想定したか?) と、試験結果の解析 (測定データやロットのバラツキを考慮したか?) が考えられます。
そこで、本セミナーでは市場トラブル原因の一つと考えられる試験データの解析の仕方をトラブル撲滅の観点から詳細に解説し、その解析手法やそのポイントを伝授します。
その結果、市場での製品の故障時期と故障の確率が予測でき、目標と合致していない場合はその部材・部位、即ち改善すべき対象を明確にすることでトラブルの未然防止ができるようになります。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/1/8 | 火力発電ボイラの耐熱材料トラブルと寿命予測 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/1/8 | 患者数・市場規模ベースで検討する医薬品の売上予測と事業性評価 | オンライン | |
| 2026/1/9 | 車載電子技術の基礎習得のための電子部品・材料の基礎 | オンライン | |
| 2026/1/13 | 異常検知への生成AI、AIエージェント導入と活用の仕方 | オンライン | |
| 2026/1/13 | Excelを用いる蒸留の理論と計算 | オンライン | |
| 2026/1/13 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/1/13 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
| 2026/1/13 | 外観検査の自動化技術とシステムの構築 | オンライン | |
| 2026/1/14 | デジタルで進化する4M管理 | オンライン | |
| 2026/1/14 | 分析法バリデーションコース (2日間) | オンライン | |
| 2026/1/14 | ICH Q2 (R2) 、Q14をふまえた承認申請時の分析法バリデーションの留意点 | オンライン | |
| 2026/1/15 | デジタルで進化する4M管理 | オンライン | |
| 2026/1/16 | 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 | オンライン | |
| 2026/1/16 | ICH (Q1) をふまえた開発段階の安定性試験実施と試験結果からの有効期間の設定 | オンライン | |
| 2026/1/16 | 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ | オンライン | |
| 2026/1/19 | ウィスカに関する故障理論と故障メカニズム・対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/1/19 | Excel/Pythonを活用した製造現場の品質データ分析入門 | オンライン | |
| 2026/1/19 | 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ | オンライン | |
| 2026/1/19 | 統計手法の基礎 | オンライン | |
| 2026/1/20 | ICH Q2(R2) の要点と分析法バリデーション実施 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2014/10/24 | 2015年版 コンデンサ市場・部材の実態と将来展望 |
| 2014/1/25 | 京セラ〔2014年版〕 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2014/1/25 | 京セラ〔2014年版〕 技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版) |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2012/3/10 | 中堅電子部品12社 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2011/10/5 | 電子部品大手8社 技術開発実態分析調査報告書 |
| 2011/10/3 | '12 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
| 2010/10/1 | '11 コンデンサ業界の実態と将来展望 |
| 2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |