技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー

実装状態での電子部品・基板の品質不具合に対する故障解析力・解決力の向上

実装状態での電子部品・基板の品質不具合に対する故障解析力・解決力の向上

~故障現象の発生メカニズムとその解決への取り組み~
オンライン 開催

概要

本セミナーでは、積層セラミックコンデンサ (MLCC) に代表される絶縁系部品、インダクタに代表される導通系部品、半導体に代表される樹脂封止部品のクラックや絶縁劣化のメカニズムとその解析、実装状態での電子部品・機器の故障に関する包括的な基礎知識について詳解いたします。

配信期間

  • 2026年2月9日(月) 10時30分2026年2月24日(火) 16時30分

お申し込みの締切日

  • 2026年2月9日(月) 10時30分

受講対象者

  • 電子部品・機器の開発者、設計者、品質担当者、製造技術者

修得知識

  • 実装状態での電子部品・機器の故障に関する包括的な基礎知識

プログラム

 ネットの普及とAIによる情報収集力の進化で、品質事故が企業イメージを大きく低下させる事件が発生している現代、様々な電子部品や電子機器に特性より高信頼性が要求される傾向にある。加えて、有識者の退職や社内での継承不足により設計ミスが発生したり、品質問題による開発の遅れが多発している。
 このセミナーでは、実装された状態での電子部品や基板の故障現象全般を紹介し、その発生メカニズムと課題解決への取り組み方を解説する。具体的は積層セラミックコンデンサ (MLCC) に代表される絶縁系部品、インダクタに代表される導通系部品、半導体に代表される樹脂封止部品のクラックや絶縁劣化のメカニズムとその解析方法。代替品の選定や小型のMLCCへの変更時の注意点にも触れる。

  1. OUTLINE
  2. 品質にかかわる技術者の価値と未来に向けて
    • 品質かかわる未来の3要素
    • 品質事故による損失
    • 品質具合による利益損失
    • 時代と共に品質の重要性が増加
    • ロバスト性
    • 故障原因を考える3視点7分類
  3. 実装以降の故障の概要
    • 電子部品の形状と実装の種類
    • 実装以降に受けるストレス
    • リフロー実装とフロー実装
    • リフロー実装のメカニズム
    • はんだを使った実装で生じるストレスの分類
    • はんだの接続不良
    • はんだによる短絡不良
    • リフロー実装に関わる主なトラブル
  4. はんだクラック
    • はんだクラック
    • 光学顕微鏡によるはんだクラック観察
    • X線CTによるはんだクラック評価
    • はんだクラックの温度サイクル寿命式
    • はんだ形状と塑性ひずみ
    • はんだクラックは低温側で生じる
    • はんだクラックの抑制
  5. 絶縁系部品 (主にMLCC) に発生する故障
    1. 絶縁系部品に発生するクラック
      1. MLCCに発生する様々なクラック
      2. たわみ強度とは
        • ランド&はんだ形状とたわみ強度
        • はんだクラックとたわみクラックの識別方法
        • たわみクラックの応力シミュレーション
        • ネット上には間違いが多い
        • たわみクラックへの対応策
        • チップ部品の小型化に伴うたわみクラック対策
      3. マウンタによる部品クラック
      4. MLCC実装基板の鳴き
    2. 絶縁系部品に発生する腐食、ECM
  6. 絶縁系部品
    1. 導通系部品に発生するクラック
      • 熱衝撃による小型コイルに発生するクラック
    2. 導通系部品に発生する腐食
      1. 巻き線コイルの被覆腐食
      2. チップインダクタの腐食による容量変化
  7. 樹脂封止部品の故障
    1. 樹脂/端子界面の剥離
    2. 封止樹脂の透湿による故障
  8. ECM、CAF、Snウィスカ
    1. ECM (エレクトロケミカルマイグレーション)
      1. Agマイグレーション
      2. Cuマイグレーション
      3. Snマイグレーション
    2. CAF
    3. Snウィスカ
      1. Snウィスカとは
      2. 熱衝撃によるSnウィスカ
      3. 金属間化合物生成によるSnウィスカ
      4. 酸化や腐食によるSnウィスカ
      5. Snウィスカの評価方法
      6. 低温実装によるSnウィスカ
      7. SnOウィスカ
  9. 最後に (未来の技術者へ)
  10. 質疑応答

講師

主催

お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 38,200円 (税別) / 42,020円 (税込)
複数名
: 25,000円 (税別) / 27,500円 (税込)

複数名受講割引

  • 2名様以上でお申込みの場合、1名あたり 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 38,200円(税別) / 42,020円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 50,000円(税別) / 55,000円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 75,000円(税別) / 82,500円(税込)
  • 同一法人内 (グループ会社でも可) による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 請求書は、代表者にご送付いたします。
  • 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
    申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」とご記入ください。
  • 他の割引は併用できません。
  • サイエンス&テクノロジー社の「2名同時申込みで1名分無料」価格を適用しています。

アカデミー割引

教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。

  • 1名様あたり 10,000円(税別) / 11,000円(税込)
  • 企業に属している方(出向または派遣の方も含む)は、対象外です。
  • お申込み者が大学所属名でも企業名義でお支払いの場合、対象外です。

アーカイブ配信セミナー

  • 「ビデオグ」を使ったアーカイブ配信セミナーとなります。
  • 当日のセミナーを、後日にお手元のPCなどからご視聴ができます。
  • お申し込み前に、 視聴環境 をご確認いただき、 視聴テスト にて動作確認をお願いいたします。
  • 別途、ID,パスワードをメールにてご連絡申し上げます。
  • 視聴期間は2026年2月9日〜24日を予定しております。
    ご視聴いただけなかった場合でも期間延長いたしませんのでご注意ください。
  • セミナー資料は、PDFファイルをダウンロードいただきます。
  • ご自宅への書類送付を希望の方は、通信欄にご住所・宛先などをご記入ください。
  • ご視聴は、お申込み者様ご自身での視聴のみに限らせていただきます。不特定多数でご覧いただくことはご遠慮下さい。
  • 講義の録音、録画などの行為や、権利者の許可なくテキスト資料、講演データの複製、転用、販売などの二次利用することを固く禁じます。
本セミナーは終了いたしました。

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/2/27 TIM (サーマルインターフェースマテリアル) の選定、活用方法と各種機器での使われ方 オンライン
2026/3/2 周辺視目視検査法による外観検査の上手な進め方 東京都 会場・オンライン
2026/3/2 サンプリング試験 (抜取検査) の全体像を把握し適切に設計・運用する具体的ノウハウ オンライン
2026/3/3 民生用電子部品の宇宙ビジネスへの転用と評価技術 オンライン
2026/3/4 先端半導体デバイスにおけるCu/Low-k多層配線技術と2.5D/3Dデバイス集積化技術の基礎〜最新開発動向 オンライン
2026/3/4 デザインレビュー (DR) の仕組み改善のポイント オンライン
2026/3/5 実験計画法とタグチメソッドの基礎・実践 オンライン
2026/3/6 従来開発方法・実験計画法との比較で学ぶ品質工学 (タグチメソッド) 実践入門 オンライン
2026/3/6 実験計画法とタグチメソッドの基礎・実践 オンライン
2026/3/9 従来開発方法・実験計画法との比較で学ぶ品質工学 (タグチメソッド) 実践入門 オンライン
2026/3/9 医薬品製造におけるヒューマンエラー・逸脱・インシデンツ事例と未然防止策 オンライン
2026/3/10 実務に役立つQFD (Quality Function Deployment:品質機能展開) の基礎と活用に向けた具体的ポイント 東京都 会場・オンライン
2026/3/10 高速回路 (Mbps〜Gbps級) の基本と実装設計への展開 オンライン
2026/3/11 高速回路 (Mbps〜Gbps級) の基本と実装設計への展開 オンライン
2026/3/11 信頼性の基礎知識と寿命目標をクリアするための加速試験・寿命予測のポイント オンライン
2026/3/11 医薬品製造におけるヒューマンエラー・逸脱・インシデンツ事例と未然防止策 オンライン
2026/3/12 車載電装部品の熱・高電圧化対策と絶縁評価技術の基礎 オンライン
2026/3/12 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ オンライン
2026/3/16 開閉接点・摺動接点・接続接点の接触理論と故障モード・メカニズムならびにその対策 東京都 会場・オンライン
2026/3/16 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ オンライン

関連する出版物

発行年月
2025/5/30 AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測
2024/12/27 次世代高速・高周波伝送部材の開発動向
2024/8/30 次世代パワーデバイスに向けた高耐熱・高放熱材料の開発と熱対策
2023/6/30 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
2022/6/17 2022年版 電子部品市場・技術の実態と将来展望
2022/1/12 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック
2021/12/10 2022年版 スマートデバイス市場の実態と将来展望
2021/10/18 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠
2021/6/18 2021年版 電子部品・デバイス市場の実態と将来展望
2020/12/11 2021年版 スマートデバイス市場の実態と将来展望
2020/11/6 QC工程表・作業手順書の作り方
2020/10/16 2021年版 コンデンサ市場・部材の実態と将来展望
2020/7/17 2020年版 電子部品・デバイス市場の実態と将来展望
2019/10/18 2020年版 コンデンサ市場・部材の実態と将来展望
2019/8/30 ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策
2019/7/19 2019年版 電子部品・デバイス市場の実態と将来展望
2018/10/19 2019年版 コンデンサ市場・部材の実態と将来展望
2017/10/20 2018年版 コンデンサ市場・部材の実態と将来展望
2016/10/21 2017年版 コンデンサ市場・部材の実態と将来展望
2015/10/23 2016年版 コンデンサ市場・部材の実態と将来展望