「製品中に異物が混入する」という事態は、大きなクレームに発展する。いち早く異物の構成物質を推定すれば、異物の発生場所の特定・対策が素早く実施でき、被害を小さく食い止めることができる。本講では、異物がどのような物質で構成されているかを明らかにするための基礎的知識の習得、およびその応用例となる事例紹介を行う。基礎知識については、サンプリング手法および異物分析の主要な分析機器 (顕微FT-IR、SEM-EDX) について原理・分析/解析のテクニックを、注意点等を交えて学んでいただく。測定・解析の事例では、いくつかの例から「異物の構成物質の推定手法」を紹介する。

1. 異物分析とは?
   1. 異物分析の目的
   2. 異物分析の流れ
2. サンプリング
   1. 実体顕微鏡による方法
   2. マイクロマニピュレータによる方法
   3. ミクロトームによる方法
3. 分析、解析
   1. 顕微FT-IR (フーリエ変換型赤外分光光度計)
      • 原理、分析テクニック、解析テクニック、最新機器の特徴
   2. SEM-EDX (走査電子顕微鏡-エネルギー分散型X線分析)
      • 原理、分析テクニック、解析テクニック、最新機器の特徴
   3. その他の役立つ分析機器
4. 異物の構成物質の推定から異物対策へ
   1. 分析/解析結果の統合 → 異物の構成物質の推定
   2. 製造現場や保全部門との連携 → 異物発生場所の特定
   3. 異物対策へ
5. 事例紹介
   • おもに顕微FT-IRおよびSEM-EDXを活用した「異物の構成物質の推定」の事例を、4～5例紹介の予定