技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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異物不良がなくならないのは、「目に見えない」、「異物に関する知識がない」、「異物不良をゼロにするアプローチを知らない」からです。講師は33年のコンサルティングにおいて、38の発生源と6つの伝達経路を見つけ、実際に異物不良をゼロにすることにより277の経験則を体系化し、「異物不良ゼロへアプローチ」を創り出しました。その範囲は、半導体、液晶、電子部品、自動車、窯業、家電、精密機械、プラスチック成形、金属加工、金型と一般エリアからクリーンルームまで全範囲に及びます。「異物ゼロへのアプローチ」を使えば、異物不良はゼロにできます。
本セミナーでは、基本的な知識を学んで頂き、質問票に答えて頂くことにより、自社 (自職場) に必要な異物対策を立案します。その後、必要な異物対策の概要を学んで頂き、自社 (自職場) に帰って、即、実行できるように構成してあります。本セミナーを受けて頂き、長年悩み、結果、あきらめていた異物不良をゼロにして下さい。また、これからクリーンルームを立ち上げる方々は高歩留りでスムーズに立ち上げる基礎知識と事前対策の方法を学んで下さい。
R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
案内および割引をご希望される方は、お申込みの際、「案内の希望 (割引適用)」の欄から案内方法をご選択ください。
「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 42,000円(税別) / 46,200円(税込) で受講いただけます。
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会場受講 または オンラインセミナーのいずれかをご選択いただけます。
お申し込みの際、受講方法の欄にて、会場受講またはライブ配信をご指定ください。
ライブ配信をご選択の場合、以下の流れ・受講内容となります。
※会場で受講の場合、このサービスは付与されませんのでご注意ください。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/6/6 | FT-IRの基礎と異物分析への実践応用テクニックとコツ・ノウハウ | オンライン | |
2025/6/6 | 電子実験ノートの導入とR&Dデータ共有・利活用ノウハウ | オンライン | |
2025/6/6 | 管理図 | オンライン | |
2025/6/9 | 現場で使えるマテリアルズ・インフォマティクス実践講座 | オンライン | |
2025/6/9 | 技能伝承の基礎知識から実践的アプローチ | オンライン | |
2025/6/10 | 「ISO9001 品質マネジメントシステム」入門講座 | オンライン | |
2025/6/10 | 現場で使えるマテリアルズ・インフォマティクス実践講座 | オンライン | |
2025/6/10 | 安全で安心な食品をお客様に届けるための食品工場の品質管理 (点検・監査など) のポイントとトラブル対策 | 会場・オンライン | |
2025/6/11 | 外観検査の "あいまいさ" を無くし判定精度を上げる外観 & 目視検査の正しい進め方 | 東京都 | オンライン |
2025/6/11 | ラボでの電子実験ノート管理・運用における経験からわかった製造や研究開発部門での電子情報管理の問題点・解決とDXの進め方 | オンライン | |
2025/6/11 | 製造業におけるAI活用の最前線と生成AIの使い方 | オンライン | |
2025/6/12 | 半導体洗浄の基礎と要点、困ったときの対策 | オンライン | |
2025/6/12 | 電子実験ノート活用への仕組み作りと定着のポイント | オンライン | |
2025/6/12 | FT-IRによる異物分析 | オンライン | |
2025/6/12 | 製造業におけるAI活用の最前線と生成AIの使い方 | オンライン | |
2025/6/13 | クリーンルームの作業員教育、設備・備品の管理・運用とクリーン化のノウハウ | オンライン | |
2025/6/13 | ヒューマンエラーの発生要因とその防止のための組織における対策 | オンライン | |
2025/6/16 | 新規事業テーマ、アイデア創出における生成AIの創造的活用 | オンライン | |
2025/6/16 | GMP工場の設備設計および維持管理のポイント | オンライン | |
2025/6/16 | ヒューマンエラーの発生要因とその防止のための組織における対策 | オンライン |
発行年月 | |
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2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |