技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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視聴期間は2024年5月21日〜31日を予定しております。
お申し込みは2024年5月29日まで承ります。
本セミナーでは、信頼性物理や信頼性試験技術を中心に、故障メカニズム、故障の加速モデルと検出感度の向上と効率化のためのTEGの設計、ストレス印加方法及び、それに伴い必要な解析、計測技術について解説いたします。
信頼性は信頼性物理に基づいた信頼性検証・設計を実現することが、困難であるようで実は最も近道である.現在殆どの企業では生き残りをかけて、新しい価値を創造し新規技術を追求し、更に新規事業を創出する活動が積極的に行われている.つまり企業として過去にも増して未知技術に対して信頼性を創り込み、市場に投入しなければなりません.その時信頼性を検証する為に信頼性試験技術を活用いたしますが、信頼性試験は「試料にストレスをかけて故障するか否かにより判定する方法」と思ってらっしゃる方はいらっしゃいませんか?確かに信頼性創成期では「信頼性試験は部品レベルで高温や高湿ストレスを実サンプルに1000時間以上印加し、所望の信頼性を満足するか否かを判定する」といった側面もありました.しかし近年の信頼性試験はTEG構造、ストレス種、劣化する計測特性、等を開発・設計し、アイテムを物理的に信頼性保証することを目的としています.
従って研究開発及び設計ステージにおいて、信頼性の知識・技術を保有した技術者達が、信頼性物理に基づいた信頼性試験等を企画・開発し、信頼性が創り込めていると確信を持つことが最も重要な活動であると言えます.更に確信が持てたうえで次ステージでは、抜け漏れが無いように様々なストレスを加えた信頼性試験を実施し、最終的には顧客・社会に対して信頼性保証が確実であることを実証する為に、数と時間を使った信頼性試験も時には必要となります. 本セミナーでは主として研究開発、設計段階で、デバイス・部品の構造・機能・性能が市場での保存・輸送及び稼働時にストレスによって起こる故障を、物理的に可視化するための信頼性物理について詳細に説明いたします.更に信頼性試験技術を中心に、必要な故障メカニズムの解明、故障の加速モデルと検出感度の向上と効率化のためのTEGの設計、ストレス印加方法及び、それに伴い必要な解析、計測技術について紹介いたします.
一章で“信頼性の基本”を確認し、二章で“創り込みと検証技術” をご理解されたうえで、本セミナーの主題である三章と四章を詳細に説明いたします.
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| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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| 2025/1/24 | グローバルPV体制・維持管理におけるEU GVP Module要求対応とEMA査察、その後のQMS実装 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |