技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、電子部品・電子機器の信頼性について基礎から解説し、電子部品の故障メカニズム・評価・解析手法を詳説いたします。
電子機器・部品の品質、信頼性は国内産業を支えとなっているが、これを達成するために企業では故障の未然防止や故障解析に大変な努力をしている。しかしながら、この技術の習得は一朝一夕にはできず、新規参入の企業や技術者にとって頭の痛い問題である。
この技術を早期に習得するためには故障に関するモデルやメカニズムの理解により経験を補うことと、実際に行われている未然防止法 (信頼性の作りこみ) 、評価・解析法、および信頼性試験を把握し、適用することが重要である。
以上のことから、本セミナーでは故障に関する基礎知識と実際に行われている未然防止法と故障解析を、事例を多く用いて、初級者にも理解しやすいように説明する。
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/5/29 | 導入品 (アカデミアへの委託試験も含む) の信頼性基準対応と信頼性基準試験の生データの取扱い | オンライン | |
| 2026/6/4 | 各種プラスチック成形品の破損トラブルと原因解析 | オンライン | |
| 2026/6/8 | ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/6/8 | 各種プラスチック成形品の破損トラブルと原因解析 | オンライン | |
| 2026/6/9 | 外観目視検査の正しい進め方と精度向上すり抜け防止の具体的手法 | 東京都 | 会場・オンライン |
| 2026/6/9 | 外観検査の実務とポイント | オンライン | |
| 2026/6/11 | 放熱/冷却技術の最新動向 | オンライン | |
| 2026/6/15 | 光電コパッケージ技術の概要・課題・最新動向・今後の展望まで | オンライン | |
| 2026/6/15 | データセンターで用いられる最新放熱冷却技術 | オンライン | |
| 2026/6/15 | 人間の認知限界に挑む「AI×ヒューマンエラー防止策」 | オンライン | |
| 2026/6/16 | ワイブル解析の基礎と結果の解釈および実務上の注意点 | オンライン | |
| 2026/6/16 | 金属材料の疲労破壊メカニズムと疲労設計 | オンライン | |
| 2026/6/16 | 光電コパッケージ技術の概要・課題・最新動向・今後の展望まで | オンライン | |
| 2026/6/16 | データセンターで用いられる最新放熱冷却技術 | オンライン | |
| 2026/6/17 | 電子機器熱設計における接触熱抵抗の予測と計測方法 | オンライン | |
| 2026/6/17 | 人間の認知限界に挑む「AI×ヒューマンエラー防止策」 | オンライン | |
| 2026/6/18 | グローバル製品開発の問題と対策 | オンライン | |
| 2026/6/19 | GxP領域データの (完全) 電子化プロセスとデータインテグリティ対応の具体的ポイント | オンライン | |
| 2026/6/19 | 使用環境・製造条件の悪影響を受けないロバストな設計条件を見極める品質工学 | オンライン | |
| 2026/6/19 | 品質機能展開 (QFD) の基本と実践的活用法 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2009/5/20 | 日本電気と富士通2社分析 技術開発実態分析調査報告書 (PDF版) |
| 2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 2003/11/18 | LSI設計の実戦ノウハウとプロセス知識 |
| 1999/10/29 | DRAM混載システムLSI技術 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1990/9/1 | LSI樹脂封止材料・技術 |
| 1990/6/1 | LSI周辺金属材料・技術 |
| 1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
| 1988/10/1 | 高密度表面実装 (SMT) におけるLSIパッケージング技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
| 1985/12/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅰ) |
| 1985/11/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅱ) |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |