技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、電子部品・電子機器の信頼性について基礎から解説し、電子部品の故障メカニズム・評価・解析手法を詳説いたします。
電子機器・部品の品質、信頼性は国内産業を支えとなっているが、これを達成するために企業では故障の未然防止や故障解析に大変な努力をしている。しかしながら、この技術の習得は一朝一夕にはできず、新規参入の企業や技術者にとって頭の痛い問題である。
この技術を早期に習得するためには故障に関するモデルやメカニズムの理解により経験を補うことと、実際に行われている未然防止法 (信頼性の作りこみ) 、評価・解析法、および信頼性試験を把握し、適用することが重要である。
以上のことから、本セミナーでは故障に関する基礎知識と実際に行われている未然防止法と故障解析を、事例を多く用いて、初級者にも理解しやすいように説明する。
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/1/29 | 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ | オンライン | |
2025/1/30 | 未然防止のためにFTAを効率的に使いこなすポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/1/30 | デザインレビュー (DR) の基本とすすめ方、抜け漏れ防止策 | オンライン | |
2025/1/30 | 導入品 (アカデミアへの委託試験も含む) の信頼性基準対応と信頼性基準試験の生データの取扱い | オンライン | |
2025/1/31 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見 + 問題解決) | オンライン | |
2025/1/31 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題解決) | オンライン | |
2025/2/4 | 電子機器における防水設計技術 (中級編) | オンライン | |
2025/2/5 | 先端半導体デバイスの多層配線技術と2.5D/3Dデバイス集積化 | オンライン | |
2025/2/5 | セラミックスの破壊メカニズムと破壊強さ試験・信頼性評価の基礎 | オンライン | |
2025/2/7 | 加速試験の加速係数の求め方と寿命予測ならびに試験法・バーンインへの展開 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/2/7 | トラブル潰しのためのFMEAとデザインレビューの賢い使い方 | オンライン | |
2025/2/7 | 設計FMEA、工程FMEAの基礎と実践ポイント | オンライン | |
2025/2/7 | 管理図 | オンライン | |
2025/2/12 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 | オンライン | |
2025/2/14 | 液冷、液浸冷却システムの導入と運用 | オンライン | |
2025/2/14 | 外観目視検査の正しい進め方と精度向上すり抜け防止の具体的手法 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/2/14 | なぜなぜ分析の実践法と問題発見・解決手法 | オンライン | |
2025/2/17 | 蓄積された技術と故障物性に基づく高信頼性電子機器の開発・製造 | オンライン | |
2025/2/17 | 設計FMEA、工程FMEAの基礎と実践ポイント | オンライン | |
2025/2/18 | 経済的リスクを元に算出する「検査基準・規格値と安全係数」決定法 速習 | オンライン |
発行年月 | |
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2009/5/20 | 日本電気と富士通2社分析 技術開発実態分析調査報告書 |
2006/6/16 | 電気・電子機器の振動と温・湿度複合環境試験 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
2003/11/18 | LSI設計の実戦ノウハウとプロセス知識 |
1999/10/29 | DRAM混載システムLSI技術 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1990/9/1 | LSI樹脂封止材料・技術 |
1990/6/1 | LSI周辺金属材料・技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/10/1 | 高密度表面実装 (SMT) におけるLSIパッケージング技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
1985/12/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅰ) |
1985/11/1 | アナログIC/LSIパターン設計 (Ⅱ) |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |