技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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製品の外観を、目視 (官能的) もしくは自動機で検査するために必要な知識の概要です。
第1部では、品質管理システム、標準化および外観検査の概要などについて述べます。
第2部では、目視検査と自動検査の双方に共通する視覚や色彩および光学現象について理解を深めたあと、目視検査・自動検査の類似点・相違点、それぞれの特徴について示すことで役割分担や共存の目安を得ます。自動検査と目視検査の対比ではどちらかというと前者に比重を置いた説明になりますが、双方の得手不得手を考慮に入れて上手く組み合わせたり課題を回避する事が効果的なシステムを構築する上での一つのポイントと考えています。
第3部では、限度見本や検査基準の設定から、検査環境を改善し性能の維持・改善を図ること、ケーススタディーによる運用ノウハウなどを説明します。また、目視検査の曖昧さへの対策や自動検査の安定化、マテリアルハンドリングの重要性について説明します。
最後に、自動検査装置に使用される光源装置や撮像装置から画像処理装置、周辺装置に関する技術情報についても示します。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2024/12/23 | ディープラーニングに基づく外観検査AI技術 | オンライン | |
2024/12/24 | 品質工学 (タグチメソッド) 実践入門 | オンライン | |
2025/1/8 | アレニウス式加速試験におけるプロット作成と予測値の取扱い | オンライン | |
2025/1/9 | 実践疲労強度設計 | オンライン | |
2025/1/10 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2025/1/10 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
2025/1/14 | 画像認識技術を用いたAI外観検査の現場導入事例と精度向上技術 | オンライン | |
2025/1/15 | 4M管理の基本と運用手順 | オンライン | |
2025/1/17 | 未然防止のための過去トラ集の作り方と使い方のポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/1/17 | 化学工場・プラントの事故に学ぶ本質的原因の探究と管理・指導側が講じるべき安全対策 | オンライン | |
2025/1/17 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
2025/1/20 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2025/1/22 | 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ | オンライン | |
2025/1/22 | 4M管理の基本と運用手順 | オンライン | |
2025/1/23 | 量産に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバストデザイン | オンライン | |
2025/1/24 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2025/1/28 | AI外観検査 (画像認識) のはじめ方、すすめ方、精度向上への考え方 | オンライン | |
2025/1/28 | セラミックスの破壊メカニズムと破壊強さ試験・信頼性評価の基礎 | オンライン | |
2025/1/29 | 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ | オンライン | |
2025/1/30 | 未然防止のためにFTAを効率的に使いこなすポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 生産プロセスにおけるIoT、ローカル5Gの活用 |
2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/12/31 | 機械学習・ディープラーニングによる "異常検知" 技術と活用事例集 |
2022/11/14 | 外観検査技術 (CD-ROM版) |
2022/11/14 | 外観検査技術 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |