技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、蓄積された経験と研究成果への理解を深め、過去の重大損傷事例の紹介を含めて講義し、構造物の安全な維持に必要な各種手法を詳解いたします。
老朽化した膨大な社会・産業資産としての構造物 (設備、機器) を安全に維持するために、保全関係技術者の重要性が高まっている。構造物の主構成材料である金属材料では、長い歴史の中で構造物の破損原因となる材料の損傷機構はほとんど解明され、寿命予測技術も進歩してきた。本講義は、保全関係技術者に、蓄積された経験と研究成果への理解を深め、過去の重大損傷事例の紹介を含めて講義し、構造物の安全な維持に必要な各種手法を習得してもらうことを目的としている。
| 開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
|---|---|---|---|
| 2026/9/3 | 引継ぎ・教育時間の極小化による開発・設計業務の属人化解消方法 | オンライン | |
| 2026/9/3 | 医薬品工場における攻めの設備保全 | オンライン | |
| 2026/9/3 | 外観検査の自動化技術とシステムの構築 | オンライン | |
| 2026/9/8 | 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 | オンライン | |
| 2026/9/9 | 外観目視検査員教育法と見逃し・バラツキ低減技術 | オンライン | |
| 2026/9/10 | 電子機器の故障メカニズムの実態理解と未然防止・故障解析の実務 | オンライン | |
| 2026/9/11 | 製造条件・使用環境の変動に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバストデザイン | オンライン | |
| 2026/9/14 | 外観検査の自動化技術とシステムの構築 | オンライン | |
| 2026/9/14 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
| 2026/9/15 | ヒューマンエラーの発生要因とその防止のための組織における対策 | オンライン | |
| 2026/9/15 | 製品設計段階で必要になる信頼性保証のための加速試験 | オンライン | |
| 2026/9/15 | 実践例20選から学ぶ産業現場AI異常検知の方式選定法 | オンライン | |
| 2026/9/16 | 積層セラミックコンデンサ (MLCC) の故障解析・絶縁劣化評価と信頼性確保 | オンライン | |
| 2026/9/16 | 製品設計段階で必要になる信頼性保証のための加速試験 | オンライン | |
| 2026/9/16 | プラント材料の腐食を中心とした損傷・劣化の防止入門 | オンライン | |
| 2026/9/16 | 画像認識技術を用いたAI外観検査の現場導入事例と精度向上技術 | オンライン | |
| 2026/9/17 | ゴム・プラスチック材料のトラブル解決 2コースセット | 東京都 | 会場 |
| 2026/9/17 | 高分子材料の劣化メカニズムと解析、寿命評価と対策事例 | 東京都 | 会場 |
| 2026/9/17 | ヒューマンエラーの発生要因とその防止のための組織における対策 | オンライン | |
| 2026/9/17 | プラント材料の腐食を中心とした損傷・劣化の防止入門 | オンライン |
| 発行年月 | |
|---|---|
| 2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
| 2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
| 2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
| 2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
| 2021/5/31 | 高分子材料の劣化・変色対策 |
| 2021/1/29 | 高分子材料の絶縁破壊・劣化メカニズムとその対策 |
| 2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
| 2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
| 2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
| 2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
| 2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
| 2012/11/1 | 触媒の劣化メカニズムと対策および加速寿命試験方法 |
| 2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
| 1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
| 1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
| 1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
| 1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
| 1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
| 1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |