技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、信頼性の基礎知識と信頼性加速試験の意味、信頼性加速試験結果を基にワイブル分布としての解析の仕方と加速係数 (倍率) の求め方、寿命目標をクリアする為の加速試験条件 (サンプルサイズ、試験時間、試験温度) の設定の仕方を詳細に解説いたします。
最近では、設計段階からFMEA・DRBFMや製品の信頼性加速試験などを用いて市場トラブルゼロを目指した活動が行われていますが、なかなか市場トラブルがゼロになっているわけではありません。
そこで、本セミナーではもう一度試験や評価の基本に立ち帰って
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 40,000円(税別) / 44,000円(税込) で受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/10/20 | 業務手順書、作業手順書の作成・運用によるノウハウの継承 | オンライン | |
2025/10/20 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2025/10/20 | 品質管理の基礎 (1) | オンライン | |
2025/10/21 | 品質工学 (タグチメソッド) 実践入門 | オンライン | |
2025/10/23 | 半導体・論理回路テストの基礎と応用 | オンライン | |
2025/10/23 | 絶縁破壊・劣化の基礎、測定・劣化診断と高分子絶縁材料の高機能化 | オンライン | |
2025/10/23 | 量産展開時の規格値管理 (検査基準・閾値判定) 安全係数、規格値を決定する「損失関数」 超入門 | オンライン | |
2025/10/24 | 半導体・論理回路テストの基礎と応用 | オンライン | |
2025/10/27 | ゴム・プラスチック材料の破損、破壊原因とその解析法 | 東京都 | 会場 |
2025/10/28 | 新製品開発に役立つ信頼性加速試験の理解と効率的な運用 | オンライン | |
2025/10/28 | アレニウスプロットの作成とその測定数値の取り扱い | オンライン | |
2025/10/29 | 図面情報を有効活用した設計FMEA/工程FMEAの具体的な進め方 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/10/29 | FMEA・DRBFMのあるべき姿、その使い方と効率の良い作成法 | オンライン | |
2025/10/29 | 食品の官能評価の基礎と手順・手法の勘所 | オンライン | |
2025/10/29 | 非GLP試験での信頼性基準試験におけるリスクベースドアプローチを用いた信頼性保証 | オンライン | |
2025/10/30 | 中国メーカーでの不良品と業務トラブルを未然防止する仕事の進め方/コミュニケーション方法/製造ライン確認方法 | 会場・オンライン | |
2025/10/30 | FMEA・DRBFMのあるべき姿、その使い方と効率の良い作成法 | オンライン | |
2025/10/30 | セラミックス材料の強度の考え方と取扱い方 | オンライン | |
2025/10/30 | GMPに基づく品質リスクアセスメント手法の選択と継続的改善のためのQRM | オンライン | |
2025/10/31 | 高分子における劣化、変色、異物等の不具合解析に関する測定評価の進め方 | オンライン |
発行年月 | |
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2025/5/30 | AI、シミュレーションを用いた劣化・破壊評価と寿命予測 |
2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |