技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー

HALTによるはんだ接続信頼性評価

HALTによるはんだ接続信頼性評価

～信頼性試験の時間短縮を目指して～
東京都 開催 会場 開催
関連するセミナー・出版物
本セミナーは終了いたしました。
セミナーの再開催を依頼する 関連するセミナー・出版物を探す

開催日

  • 2013年11月15日(金) 13時30分 ～ 16時00分

受講対象者

  • 品質・信頼性の担当者、管理者

修得知識

  • 信頼性の基礎
  • 信頼性試験データの解析手法

プログラム

  1. NITE (独立行政法人製品評価技術基盤機構) 事故情報DBより (はんだクラック)
    1. 製品別、事故区分別、使用年数別発生件数
    2. 市場残存率からみた発生件数
    3. 市場残存率を考慮したワイブル解析
  2. HALT (Highly accelerated life test) とは
    1. 試験方法
    2. HASS (Highly Accelerated Stress Screening) 、HASA (Highly Accelerated Stress Audit)
  3. HALTによるはんだ接続信頼性評価
    1. 目的、内容、結果
    2. まとめ
  4. その他のHALT活用事例紹介
ページのトップヘ

講師

  • 北村 幸雄 氏
    パナソニック株式会社 解析センター 信頼性サポートグループ 信頼性評価チーム
    主任技師
ページのトップヘ

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
ページのトップヘ

主催

株式会社 トリケップス
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 41,000円 (税別) / 43,050円 (税込)
1口
: 55,000円 (税別) / 57,750円 (税込) (3名まで受講可)

割引特典について

  • 複数名 同時受講:
    1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)
本セミナーは終了いたしました。
セミナーの再開催を依頼する
ページのトップヘ

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2026/1/13 外観検査の自動化技術とシステムの構築 オンライン
2026/1/13 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2026/1/13 品質管理の基礎 (4) オンライン
2026/1/16 ICH (Q1) をふまえた開発段階の安定性試験実施と試験結果からの有効期間の設定 オンライン
2026/1/16 積層セラミックコンデンサの故障メカニズム、解析事例と品質向上 オンライン
2026/1/16 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ オンライン
2026/1/19 ウィスカに関する故障理論と故障メカニズム・対策 東京都 会場・オンライン
2026/1/19 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ オンライン
2026/1/21 車載電装部品の熱・高電圧化対策と絶縁評価技術の基礎 オンライン
2026/1/21 医薬品製造のQC/QA業務に使用できるクラウドの導入とバリデーション オンライン
2026/1/21 利益損失を防ぐ自社と顧客の経済的リスクを根拠にした「安全係数と検査基準・規格値」決定法 オンライン
2026/1/21 はんだ接合部の疲労故障および信頼性向上 オンライン
2026/1/22 実装状態での電子部品・基板の品質不具合に対する故障解析力・解決力の向上 オンライン
2026/1/22 外観検査の自動化技術とシステムの構築 オンライン
2026/1/22 利益損失を防ぐ自社と顧客の経済的リスクを根拠にした「安全係数と検査基準・規格値」決定法 オンライン
2026/1/23 半導体・論理回路テストの基礎と応用 オンライン
2026/1/26 食品の官能評価の基礎と手順・手法の勘所 オンライン
2026/1/26 半導体・論理回路テストの基礎と応用 オンライン
2026/1/26 外観検査 (2日間) オンライン
2026/1/26 AI外観検査 (画像認識) のはじめ方、すすめ方、精度の向上 オンライン
ページのトップヘ