技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
本セミナーでは、電気部品・機構部品の故障について取り上げ、故障事例、故障メカニズム、各種部品ごとのウィークポイント、デバイス評価時のおさえどころについて、豊富な経験に基づき、様々な事例を交えて詳しく解説いたします。
本セミナーのテキストには機構部品と電気機構部品、電子部品のそれぞれの分野で確認される主要故障モードについて100超の事例がリストアップされている。この講座担当の講師の40年以上にわたる信頼性の経験と知識を故障事例に集約して次代の方々に伝授する。それぞれの事例は可能な限り、技術データ、写真、図を多く取り入れてあり、解説を聞くことによって故障の原理、傾向、故障発生機構を知ることができ、今まで突き詰められなかった技術分野やあいまいだった知識を改めて習得でき、より適切な真因追求とより適切な対策がとれるようになる。この講座を受けることで間違いなくあなたは今まで以上の博学な技術者になれる。
講座では100余の事例を取り込んであるが、単なる事例の説明や解説でなく、そこから得られる原理原則や法則性を含めたレクチャを時間の許す限り実施する。機構部品・電子部品の故障を広範囲に深く突き詰めたい方々には技術ライブラリー、故障物理辞典代わりに利用していただくとよい講座である。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 40,000円(税別) / 44,000円(税込) で受講いただけます。
ライブ配信・アーカイブ配信受講の場合、別途テキストの送付先1件につき、配送料 1,100円(税別) / 1,210円(税込) を頂戴します。
会場受講、ライブ配信、アーカイブ配信のいずれかをご選択いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/6/30 | 医薬品の要求品質の明確化と外観検査のポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/30 | 不良ゼロへのアプローチ | オンライン | |
2025/6/30 | 信頼性の基礎知識と寿命目標をクリアするための加速試験・寿命予測のポイント | オンライン | |
2025/6/30 | 品質管理の基礎 (4日間) | オンライン | |
2025/6/30 | 積層セラミックコンデンサ (MLCC) の設計、材料技術、開発動向と課題 | オンライン | |
2025/6/30 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
2025/7/3 | はんだ接合部の疲労故障および信頼性向上 | オンライン | |
2025/7/4 | はじめての品質対応 | オンライン | |
2025/7/4 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2025/7/7 | はじめての品質対応 | オンライン | |
2025/7/8 | 異物ゼロへのアプローチ | オンライン | |
2025/7/8 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2025/7/9 | 半導体テスト技術の基礎と動向 | オンライン | |
2025/7/9 | 周辺視目視検査法の進め方と実施法 | 東京都 | 会場 |
2025/7/11 | 積層セラミックコンデンサ (MLCC) の設計、材料技術、開発動向と課題 | オンライン | |
2025/7/16 | 信頼性に役立つワイブル解析の方法とその使い方 | オンライン | |
2025/7/16 | 電子機器の故障メカニズムと未然防止・故障解析のポイント | オンライン | |
2025/7/17 | 監査員の立場からみるGMP違反を防ぐ教育訓練とQuality Culture醸成 | オンライン | |
2025/7/17 | ヒューマンエラー対策と生成AI新技術による保全の展望 | オンライン | |
2025/7/18 | 信頼性試験と故障解析の理論と実践 | オンライン |
発行年月 | |
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2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
2005/5/13 | BGA・CSP・フリップチップはんだ接合部の加速試験と信頼性評価法 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1997/11/1 | 回路部品の故障モードと加速試験 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1986/12/1 | 耐ノイズ機器実装設計技術 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |