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HALTによるはんだ接続信頼性評価技術

HALTによるはんだ接続信頼性評価技術

～信頼性試験の時間短縮を目指して～
東京都 開催 会場 開催
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開催日

  • 2014年5月23日(金) 13時00分 ～ 16時30分

受講対象者

  • 品質・信頼性の担当者、管理者
    • 電子部品
    • 電子機器など

修得知識

  • 信頼性の基礎
  • 信頼性試験データの解析手法

プログラム

  1. NITE (独立行政法人製品評価技術基盤機構) 事故情報DBより (はんだクラック)
    1. 製品別、事故区分別、使用年数別発生件数
    2. 市場残存率からみた発生件数
    3. 市場残存率を考慮したワイブル解析…PCデモ (ワイブル解析プログラム) による解説
      1. 市場残存率を考慮したワイブル解析方法
      2. はんだクラックの市場データとヒートショック試験の比較
      3. 市場での推定発生件数 (対象台数100000台)
  2. HALT とは
    1. 試験内容
      1. HALT条件 (複合ストレス)
      2. HST条件:気相式タイプ
      3. 試料
      4. はんだ量と耐クラック性、及びHSTとHALTの加速性
      5. HALT実施
      6. HST実施
      7. HALTとHSTのはんだクラック例
      8. 試験結果
    2. HASS , HASA
  3. HALTによるはんだ接続信頼性評価
    1. 目的、内容、結果
    2. まとめ
  4. その他のHALT活用事例紹介
    1. コネクタの接続不良
    2. ワイヤーバレルカシメ部の接続不良
    3. ファストン端子のタブバレルの応力緩和
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講師

  • 北村 幸雄 氏
    パナソニック株式会社 解析センター 信頼性サポートグループ 信頼性評価チーム
    主任技師
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会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
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主催

株式会社 トリケップス
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お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 43,000円 (税別) / 46,440円 (税込)
1口
: 56,000円 (税別) / 60,480円 (税込) (3名まで受講可)
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