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HALTによるはんだ接続信頼性評価技術
HALTによるはんだ接続信頼性評価技術
～信頼性試験の時間短縮を目指して～
東京都 開催
会場 開催
本セミナーは終了いたしました。
開催日
- 2014年5月23日(金) 13時00分 ～ 16時30分
受講対象者
- 品質・信頼性の担当者、管理者
- 電子部品
- 電子機器など
修得知識
- 信頼性の基礎
- 信頼性試験データの解析手法
プログラム
- NITE (独立行政法人製品評価技術基盤機構) 事故情報DBより (はんだクラック)
- 製品別、事故区分別、使用年数別発生件数
- 市場残存率からみた発生件数
- 市場残存率を考慮したワイブル解析…PCデモ (ワイブル解析プログラム) による解説
- 市場残存率を考慮したワイブル解析方法
- はんだクラックの市場データとヒートショック試験の比較
- 市場での推定発生件数 (対象台数100000台)
- HALT とは
- 試験内容
- HALT条件 (複合ストレス)
- HST条件:気相式タイプ
- 試料
- はんだ量と耐クラック性、及びHSTとHALTの加速性
- HALT実施
- HST実施
- HALTとHSTのはんだクラック例
- 試験結果
- HASS , HASA
- 試験内容
- HALTによるはんだ接続信頼性評価
- 目的、内容、結果
- まとめ
- その他のHALT活用事例紹介
- コネクタの接続不良
- ワイヤーバレルカシメ部の接続不良
- ファストン端子のタブバレルの応力緩和
講師
会場
主催
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。
受講料
1名様
:
43,000円 (税別) / 46,440円 (税込)
1口
:
56,000円 (税別) / 60,480円 (税込)
(3名まで受講可)
本セミナーは終了いたしました。
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