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HALTによるはんだ接続信頼性評価

HALTによるはんだ接続信頼性評価

~信頼性試験の時間短縮を目指して~
東京都 開催

開催日

  • 2013年11月15日(金) 13時30分 16時00分

受講対象者

  • 品質・信頼性の担当者、管理者

修得知識

  • 信頼性の基礎
  • 信頼性試験データの解析手法

プログラム

  1. NITE (独立行政法人製品評価技術基盤機構) 事故情報DBより (はんだクラック)
    1. 製品別、事故区分別、使用年数別発生件数
    2. 市場残存率からみた発生件数
    3. 市場残存率を考慮したワイブル解析
  2. HALT (Highly accelerated life test) とは
    1. 試験方法
    2. HASS (Highly Accelerated Stress Screening) 、HASA (Highly Accelerated Stress Audit)
  3. HALTによるはんだ接続信頼性評価
    1. 目的、内容、結果
    2. まとめ
  4. その他のHALT活用事例紹介

講師

  • 北村 幸雄
    パナソニック株式会社 解析センター 信頼性サポートグループ 信頼性評価チーム
    主任技師

会場

オームビル
東京都 千代田区 神田錦町3-1
オームビルの地図

主催

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お問い合わせ

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(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 41,000円 (税別) / 43,050円 (税込)
1口
: 55,000円 (税別) / 57,750円 (税込) (3名まで受講可)

割引特典について

  • 複数名 同時受講:
    1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)
本セミナーは終了いたしました。