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HALTによるはんだ接続信頼性評価
HALTによるはんだ接続信頼性評価
～信頼性試験の時間短縮を目指して～
東京都 開催
会場 開催
本セミナーは終了いたしました。
開催日
- 2013年11月15日(金) 13時30分 ～ 16時00分
受講対象者
- 品質・信頼性の担当者、管理者
修得知識
- 信頼性の基礎
- 信頼性試験データの解析手法
プログラム
- NITE (独立行政法人製品評価技術基盤機構) 事故情報DBより (はんだクラック)
- 製品別、事故区分別、使用年数別発生件数
- 市場残存率からみた発生件数
- 市場残存率を考慮したワイブル解析
- HALT (Highly accelerated life test) とは
- 試験方法
- HASS (Highly Accelerated Stress Screening) 、HASA (Highly Accelerated Stress Audit)
- HALTによるはんだ接続信頼性評価
- 目的、内容、結果
- まとめ
- その他のHALT活用事例紹介
講師
会場
主催
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。
受講料
1名様
:
41,000円 (税別) / 43,050円 (税込)
1口
:
55,000円 (税別) / 57,750円 (税込)
(3名まで受講可)
割引特典について
- 複数名 同時受講:
1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)
本セミナーは終了いたしました。
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