技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
本セミナーでは、30年にわたり講師が蓄積してきた、数多の現場の成功事例・失敗事例の経験則を体系化し、どのような現場にも適用可能な異物ゼロへのアプローチ法を解説いたします。
異物不良は、異物の正体を知り、徹底清掃することよりゼロになります。その結果、異物の発生源と伝達経路が限定でき、異物不良の発生メカニズムが明確になります。その上で発生源対策と伝達経路対策を実施し、仕上げとして清掃困難箇所対策を打ち、効果的・効率的な清掃基準を作成し、それを守ることにより異物不良ゼロ状態を保つことができるようになります。
本セミナーでは、この一連の流れを説明し、3つの対策の事例、実際の活動事例を紹介し、異物不良をゼロにするストーリーを理解して頂きます。異物ゼロへのアプローチは、講師が30年間のコンサルティングで異物不良を実際にゼロにし、その経験則 (成功事例、失敗事例) を体系化したものです。その範囲は、半導体、液晶、電子部品、自動車、窯業、家電、精密機械、プラスチック成形、金属加工、金型と多岐にわたり、一般エリアからクリーンルームまですべての現場で適用可能です。
異物は経験則です。ぜひ数多くの経験則を自社で試し、長年悩んできてあきらめていた異物不良、打痕、キズをゼロにして下さい。
教員、学生および医療従事者はアカデミー割引価格にて受講いただけます。
会場受講 または オンラインセミナーのいずれかをご選択いただけます。
お申し込みの際、受講方法の欄にて、会場受講またはオンライン受講をご指定ください。
オンラインセミナーをご選択の場合、以下の流れ・受講内容となります。
※会場で受講の場合、このサービスは付与されませんのでご注意ください。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
---|---|---|---|
2025/8/22 | 設計部門におけるFMEA/FTA実務入門 | オンライン | |
2025/8/22 | 化粧品製造における微生物トラブルと解決法及び微生物に関する試験法 | オンライン | |
2025/8/22 | FT-IRによる異物分析の実例とスペクトル解析のコツ | オンライン | |
2025/8/25 | クリーンルームの作業員・設備・備品の管理・運用方法とそのノウハウ | オンライン | |
2025/8/25 | 医薬品の特性を踏まえた外観目視検査基準の設定と検査結果の妥当性評価および検査員の育成・認定 | オンライン | |
2025/8/25 | FT-IRによる異物分析の実例とスペクトル解析のコツ | オンライン | |
2025/8/26 | クリーンルームの作業員・設備・備品の管理・運用方法とそのノウハウ | オンライン | |
2025/8/26 | 製品設計段階で必要になる信頼性保証のための加速試験 | オンライン | |
2025/8/26 | はじめての品質対応 | オンライン | |
2025/8/27 | クリーンルームにおけるゴミ・異物対策および静電気対策の基礎と実践 | オンライン | |
2025/8/27 | 製品設計段階で必要になる信頼性保証のための加速試験 | オンライン | |
2025/8/28 | 業務ですぐ活用できる品質工学 (タグチメソッド) 入門 | オンライン | |
2025/8/28 | 微生物迅速試験法の各試験の原理と目的・プロセス分析技術 (PAT) | オンライン | |
2025/8/28 | 生成AIを活用した異常検知と判断の標準化、高精度化への活用 | オンライン | |
2025/8/29 | 経済的リスクを元に算出する「検査基準・規格値と安全係数」決定法 | オンライン | |
2025/8/29 | 生成AIを活用した異常検知と判断の標準化、高精度化への活用 | オンライン | |
2025/9/1 | 経済的リスクを元に算出する「検査基準・規格値と安全係数」決定法 | オンライン | |
2025/9/5 | 事故や失敗事例から学ぶHAZOP実践講座 | オンライン | |
2025/9/5 | クリーンルームの基礎と作業員・清潔度維持管理のポイント | オンライン | |
2025/9/8 | GMPに基づいた衛生管理とその徹底 | オンライン |
発行年月 | |
---|---|
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |