技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、高信頼性の製品を設計・評価するために、信頼性の基礎知識から信頼性加速試験の設定の仕方、特に製品の使われる環境での耐用寿命の推定の仕方を詳細に紹介いたします。
近年、様々な製品で小型化・省エネ化を求められています。その製品に搭載される部品や部材まで微細加工や超薄型化されています。一方、微細加工や薄膜素材の積層などでパターン間や素材間の電界強度が大きくなるため市場でのトラブル増加が懸念されます。これらのトラブルをなくすために設計段階からFMEA・FMEAや製品の信頼性試験などを用いて不良ゼロを目指した活動がなされていますが、市場トラブルがゼロになっているわけではありません。
そこで、本セミナーでは高信頼性の製品を設計・評価するために、信頼性の基礎知識から信頼性加速試験の設定の仕方、特に製品の使われる環境での耐用寿命の推定の仕方を詳細に紹介します。
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「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 40,000円(税別) / 44,000円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 22,500円(税別) / 24,750円(税込) で受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/7/4 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2025/7/7 | はじめての品質対応 | オンライン | |
2025/7/8 | 異物ゼロへのアプローチ | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/7/8 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン | |
2025/7/9 | 半導体テスト技術の基礎と動向 | オンライン | |
2025/7/9 | 周辺視目視検査法の進め方と実施法 | 東京都 | 会場 |
2025/7/11 | タイ分子の基礎と応用 | オンライン | |
2025/7/14 | ゴム・プラスチック材料のトラブル解決 2コースセット | 東京都 | 会場 |
2025/7/14 | 高分子材料の劣化・不具合の解析と寿命評価、対策事例 | 東京都 | 会場 |
2025/7/16 | 信頼性に役立つワイブル解析の方法とその使い方 | オンライン | |
2025/7/16 | 電子機器の故障メカニズムと未然防止・故障解析のポイント | オンライン | |
2025/7/17 | 監査員の立場からみるGMP違反を防ぐ教育訓練とQuality Culture醸成 | オンライン | |
2025/7/17 | ヒューマンエラー対策と生成AI新技術による保全の展望 | オンライン | |
2025/7/18 | 信頼性試験と故障解析の理論と実践 | オンライン | |
2025/7/18 | ヒューマンエラー対策と生成AI新技術による保全の展望 | オンライン | |
2025/7/24 | トラブル潰しのためのFMEAとデザインレビューの賢い使い方 | オンライン | |
2025/7/25 | 電子部品・機構部品の主要な故障100超のモード・メカニズムとその対策 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/7/25 | WBGパワーデバイス・モジュールに求められる高耐熱・信頼性実装材料・接合技術と新規材料・実装構造の開発、信頼性評価技術 | オンライン | |
2025/7/28 | WBGパワーデバイス・モジュールに求められる高耐熱・信頼性実装材料・接合技術と新規材料・実装構造の開発、信頼性評価技術 | オンライン | |
2025/7/29 | DFMEA・DRBFMの基本と職場での活用法 | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |