技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、開発設計段階で活用する手法で発生する矛盾を、妥協するのではなく、矛盾を解くための方法について解説いたします。
数百~数万通りの設計条件の組み合わせの中から短時間に最適な設計案を決定しなければならなりません。
そのためには、市場でばらつきの原因となる、温度・湿度、ならびに長期間使用したときに製品の特性がばらついて商品が使用できなくなったり、故障しシステムダウンとなる設計を行ってはいけません。
そのためには、開発段階で市場に投入されたときに、影響を受けるばらつき要因があっても影響を受けない設計をすることがポイントになります。大半の設計は、設計が完了してから環境と加速寿命試験を行い、製品の出来栄えを評価している企業は少なくありません。設計が完了してからのトラブル対策は、やり直しのロスコストが増加し会社の利益を減少させてしまいます。また、設計図面通り、工程を設計し量産に移行した後で、最終検査工程で歩留まりが悪くなるような公差を設定してはいけません。
歩留まりが良く、市場トラブルのない製品をどのように開発するのかについて学ぶための入門コースの受講をお勧めいたします。
セミナー終了後の個別相談の対応をいたします。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/6/23 | はじめての薬物動態学シリーズ 全2日間セミナー | オンライン | |
2025/6/23 | はじめての薬物動態学入門 - 基礎編 | オンライン | |
2025/6/25 | ISO 13485:2016が求める医療機器の設計開発における統計手法とそのサンプルサイズ決定方法 | オンライン | |
2025/6/26 | 最適解を効率的に導く統計的組合せ最適化:実験計画法とExcelでできる人工知能を併用する汎用的インフォマティクス:非線形実験計画法 | オンライン | |
2025/6/27 | ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/27 | 「統計的品質管理」総合コース2024 | オンライン | |
2025/6/27 | データサイエンスの基礎 | オンライン | |
2025/6/27 | 安定性試験の評価と有効期間の設定 | オンライン | |
2025/6/27 | プロセスバリデーションと年次照査 (APR) への応用 | オンライン | |
2025/6/27 | サンプリング試験 (ロットの合否判定方法) への応用 | オンライン | |
2025/6/27 | 分析法バリデーションへの応用 | オンライン | |
2025/6/27 | Quality by Designのための実験計画法 | オンライン | |
2025/6/30 | 医薬品の要求品質の明確化と外観検査のポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/30 | 不良ゼロへのアプローチ | オンライン | |
2025/6/30 | はじめての薬物動態学入門 - 解析編 | オンライン | |
2025/6/30 | 信頼性の基礎知識と寿命目標をクリアするための加速試験・寿命予測のポイント | オンライン | |
2025/6/30 | 品質管理の基礎 (2) | オンライン | |
2025/7/2 | ゼータ電位入門 | オンライン | |
2025/7/4 | 品質管理の基礎 (3) | オンライン | |
2025/7/8 | 品質管理の基礎 (4) | オンライン |
発行年月 | |
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2023/6/30 | 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測 |
2022/2/28 | 撹拌装置の設計とスケールアップ |
2022/1/12 | 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック |
2021/10/18 | 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠 |
2020/11/6 | QC工程表・作業手順書の作り方 |
2019/8/30 | ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策 |
2015/10/22 | FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法 |
2013/6/3 | プラスチックのタフニングと強度設計 |
2013/2/1 | 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方 |
2013/1/31 | ヒューマンエラー対策 事例集 |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
2000/8/1 | ページャ受信機設計技術 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |