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信頼性試験の必須基礎知識と効率的な進め方

信頼性試験の必須基礎知識と効率的な進め方

東京都 開催 会場 開催 演習付き
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概要

本セミナーでは、故障モデルや信頼性試験の基礎知識を概説し、データ解析、抜き取り試験、加速試験の進め方や留意点をわかりやすく説明いたします。

開催日

  • 2015年12月21日(月) 10時00分 ～ 17時00分

受講対象者

  • 品質・信頼性の担当者、管理者

修得知識

  • 信頼性の基礎
  • 信頼性試験データの解析手法
  • 加速試験の基礎

プログラム

  1. トラブル未然防止と信頼性七つ道具 (R7)
    • トラブルの未然防止
    • 三位一体の信頼性・安全性解析
  2. 信頼性の基礎
    1. 故障とは
      1. ストレス
      2. 故障メカニズム
      3. 故障モード
    2. 信頼性の尺度
      1. 信頼度
      2. 故障率
      3. 寿命の代表値
        • MTTF
        • MTBF
        • ビーテン寿命
    3. システムの信頼性モデル
      1. 直列モデル
        • 鎖モデル
      2. 並列モデル
        • 綱モデル
    4. バスタブ曲線に基づく故障分布モデル
      1. 指数分布
      2. ワイブル分布
  3. 信頼性試験運用の基礎知識
    1. なぜ信頼性試験を行うのか
    2. 信頼性試験のいろいろ
    3. 信頼性試験で気をつけたいこと
      • 計画面
      • 実行面
    4. 立ちはだかる「数と時間の壁」
  4. 故障物理の基礎
    1. 故障モデルの全体マップ
    2. 加速試験を支える故障モデル
      1. ストレス・強度モデル
      2. 累積損傷モデル
        • マイナー則
      3. 反応論モデル
        • アレニウス則
        • アイリング則
    3. 固有技術に基づく代表的な故障成長モデル
      1. 機械的劣化現象
        • クリープ
        • 疲労
        • クラック
        • 応力腐食
      2. 化学的劣化現象
        • 酸化
        • 腐食
        • イオンマイグレーション
        • 汚染
      3. 熱的劣化現象
        • 熱疲労
        • 合金化
        • 溶断
        • 結晶欠陥
      4. 電気的劣化現象
        • 過電圧/過電流
        • 静電破壊
        • 放電
        • エレクトロマイグレーション
        • 溶断
  5. 加速寿命試験の原理
    1. 経験に基づく加速の方法
    2. 加速性の成立条件と加速係数
    3. 故障物理モデルに基づく加速試験法
      1. アレニウス則
      2. θ度則
      3. べき乗則
    4. 複合ストレスの加速モデル
    5. 加速試験で気をつけること
      • (参考) 定性的加速試験法 (HALT) について
  6. 信頼性抜取試験法
    1. 信頼性抜取試験の原理
    2. 信頼性抜取試験のいろいろ
    3. 指数分布に基づく計数一回抜取方式のデザイン (演習含む)
      1. LTFR保証型
      2. 基準型
        1. JIS C 5003 電子部品の故障率試験方法通則の要点
    4. 指数分布に基づく計数逐次抜取方式のデザイン
    5. ワイブル分布に基づく計数抜取試験の例 (形状パラメータ既知)
  7. 信頼性試験データの解析手法
    1. 時間線図による信頼性試験データの見える化
      1. 動作状態 (OS) 図
      2. データ解析 (DA) 図
      3. CHM法
    2. ワイブル解析 (演習)
      1. ワイブル確率紙解析法
      2. 累積ハザード法
        • (参考) CAREソフトによるワイブル解析
    3. 偶発故障データの統計的推定法 (演習)
    4. 計数データの解析法
  8. まとめ
    • 質疑応答
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会場

江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)

9F 会議室

東京都 江東区 亀戸2-19-1
江東区役所 商工情報センター (カメリアプラザ)の地図
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主催

株式会社 R&D支援センター
お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 46,278円 (税別) / 49,980円 (税込)

割引特典について

  • R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
    • 1名でお申込みいただいた場合、1名につき 43,750円 (税別) / 47,250円 (税込)
    • 複数名で同時にお申し込みいただいた場合、1名につき 23,139円 (税別) / 24,990円 (税込)
    • 案内登録をされない方は、1名につき 46,278円 (税別) / 49,980円 (税込)
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