技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー

新製品開発段階における効果的なDR+デザイン・イン対策法

新製品開発段階における効果的なDR+デザイン・イン対策法

~開発段階・事前検討段階から不良をなくす~
東京都 開催 会場 開催

概要

本セミナーでは、デザインレビューについて基礎から解説し、実務的なデザインレビューを効率的に進めるポイントを詳解いたします。

開催日

  • 2015年4月16日(木) 10時30分 16時30分

修得知識

  • 世界で起きた事故・不良解析
  • 事例に見る事前検討不備が招く膨大な損金
  • 世界のDR対策の総棚卸し
  • ハザードMAPによる危険点の予知・予防の見える化対策の実務
  • デザイン・イン対策の実務的内容の紹介

プログラム

 市場不良の85%は開発段階・事前検討段階 (DR:Design Review) の不備とされてきました。ここで、製造現場の参画を始め、協力会社~異業種の知見を集めた新製品開発部門は、少ない投入工数で確実、モレの無い検討を実務的に進める対策を進める上で欠かせない重要手続きです。
 そこで、今回、異業種交流の形で、開発総工数を1/2、開発リードタイム1/3を縮減した、数社の方々によるN-TZD研究会 (新製品開発段階から不良ゼロ追及を目的とした研究会) 活動と共に、製品開発・試作・立ち上げ実務者の方々を加え、効果的にDR対策の実務を進める方式を、世界的に著名なDR対策と比較しながら紹介させていただくセミナーとしました。
 新製品ライフサイクル短命化と国際競争力強化上、初段階に行うDR+デザイン・イン対策は、その展開意義が益々重要になっています。
 本セミナーでは、このような問題を直視して実務的なDR+デザイン・イン対策を進め、効果的に新製品立ち上げスムーズ化につなげる具体策を紹介します。どうぞ、多くの実務者の皆様のご参加を願っております。

  1. DR不備で遭遇する「悪魔のサイクル」の脅威 :
    1. 知っておくべき「悪魔のサイクル」とDRの重要性
    2. 昨今起きた品質重大事故の社会・コスト的影響 (事例紹介)
    3. ケーススタディでつかむリスク対策の要点 (簡単なグループ演習)
    4. ISO9004が提唱するDR要件~世界的に著名なDRシステム
  2. 知っておくべき世界的に有名なDR手法、総棚卸し
    1. KKD (勘・経験・度胸) +D (出たとこ勝負) 方式の問題
    2. 統計解析とその活用法 (異常値の除去判定~田口メソッド)
    3. QS9000で重視するFTAとFMEAの活用法
    4. デザイン対策に効果的なCAE (IT活用) 技術
    5. DR+デザイン・イン対策に欠かせない「新製品ハザードMAP」作成~活用
  3. 製造現場と新製品開発部門の連携を中心としたDR+デザイン・イン対策
    1. デザイン・イン対策に必要な現場関係者が参画する意義と効果
    2. 現場参画による、DR+デザイン・イン対策の進め方 (手法)
    3. 実践事例に学ぶ、開発+現場参画DR+デザイン・イン対策の成果
  4. 関連・協力企業を取り込んだDR+デザイン・イン対策
    1. MOT~NCネットワークまで関連・協力会社を取り込んだDR対策事例
    2. 関連・協力会社を含めたDR+デザイン・イン対策の組織化 (手法)
    3. 事例に学ぶDR+デザイン・イン体制の標準化
  5. 社外の知見活用で効果を挙げるDR+デザイン・イン対策
    1. 社外・異業種技術の活用で効果をあげたDR+デザイン・イン対策事例の解析
    2. 時間と空間を超えたDR+デザイン・イン対策の進め方
    3. 従来の企業枠を超えたDR+デザイン・イン対策事例の解析
  6. 海外生産スムーズ化のためのDR+デザイン・イン対策
    1. 空洞化問題と海外対応
    2. 海外への技術移転スムーズ化のためのDR+デザイン・イン対策
    3. 海外を含めた自然災害対策に対するDR+デザイン・イン対策
  7. Q&Aとまとめ
    • 質疑応答

講師

  • 中村 茂弘
    有限会社QCD革新研究所
    代表取締役 / 所長

会場

品川区立総合区民会館 きゅりあん

4階 第2特別講習室

東京都 品川区 東大井5丁目18-1
品川区立総合区民会館 きゅりあんの地図

主催

お支払い方法、キャンセルの可否は、必ずお申し込み前にご確認をお願いいたします。

お問い合わせ

本セミナーに関するお問い合わせは tech-seminar.jpのお問い合わせからお願いいたします。
(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 42,750円 (税別) / 46,170円 (税込)
複数名
: 22,500円 (税別) / 24,300円 (税込)

複数名同時受講の割引特典について

  • 2名様以上でお申込みの場合、
    1名あたり 22,500円(税別) / 24,300円(税込) で受講いただけます。
    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 42,750円(税別) / 46,170円(税込)
    • 2名様でお申し込みの場合 : 2名で 45,000円(税別) / 48,600円(税込)
    • 3名様でお申し込みの場合 : 3名で 67,500円(税別) / 72,900円(税込)
  • 受講者全員が会員登録をしていただいた場合に限ります。
  • 同一法人内(グループ会社でも可)による複数名同時申込みのみ適用いたします。
  • 受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。
  • 請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
    申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。
  • 他の割引は併用できません。
本セミナーは終了いたしました。

これから開催される関連セミナー

開始日時 会場 開催方法
2024/12/20 アレニウス式加速試験におけるプロット作成と予測値の取扱い オンライン
2024/12/20 特許出願・ノウハウ保護の選択基準と留意点 オンライン
2024/12/24 品質工学 (タグチメソッド) 実践入門 オンライン
2025/1/8 アレニウス式加速試験におけるプロット作成と予測値の取扱い オンライン
2025/1/9 実践疲労強度設計 オンライン
2025/1/10 品質管理の基礎 (4日間) オンライン
2025/1/10 品質管理の基礎 (1) オンライン
2025/1/15 4M管理の基本と運用手順 オンライン
2025/1/17 未然防止のための過去トラ集の作り方と使い方のポイント 東京都 会場・オンライン
2025/1/17 化学工場・プラントの事故に学ぶ本質的原因の探究と管理・指導側が講じるべき安全対策 オンライン
2025/1/17 品質管理の基礎 (2) オンライン
2025/1/20 品質管理の基礎 (3) オンライン
2025/1/21 MTシステム (MT法) の基礎および異常検知・異常モニタリング・予防保全技術入門 オンライン
2025/1/22 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ オンライン
2025/1/22 4M管理の基本と運用手順 オンライン
2025/1/23 量産に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバストデザイン オンライン
2025/1/24 新商品アイデア創出・選別の方法と仕組みづくり オンライン
2025/1/24 品質管理の基礎 (4) オンライン
2025/1/28 セラミックスの破壊メカニズムと破壊強さ試験・信頼性評価の基礎 オンライン
2025/1/29 外観検査の効果的で効率的な進め方と実践ノウハウ オンライン

関連する出版物

発行年月
2023/6/30 加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
2022/2/28 With・Afterコロナで生まれた新しい潜在・将来ニーズの発掘と新製品開発への応用
2022/1/12 製造DX推進のための外観検査自動化ガイドブック
2021/10/18 医療機器の設計・開発時のサンプルサイズ設定と設定根拠
2020/11/6 QC工程表・作業手順書の作り方
2019/8/30 ヒューマンエラーの発生要因と削減・再発防止策
2018/5/31 “人工知能”の導入による生産性、効率性の向上、新製品開発への活用
2015/10/22 FMEA・DRBFMの基礎と効果的実践手法
2013/7/16 「ロボット技術の用途、機能、構造等主要観点別開発動向と参入企業の強み、弱み分析」に関する技術開発実態分析調査報告書 (CD-ROM版)
2013/7/16 「ロボット技術の用途、機能、構造等主要観点別開発動向と参入企業の強み、弱み分析」に関する技術開発実態分析調査報告書
2013/6/3 プラスチックのタフニングと強度設計
2013/2/1 患者情報の安全管理と法的にみた診療記録のあり方
2013/1/31 ヒューマンエラー対策 事例集
2006/3/10 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析
1998/6/15 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術
1993/4/1 はんだ接続の高信頼性化技術とその評価
1992/11/11 VLSI試験/故障解析技術
1988/2/1 半導体の故障モードと加速試験
1987/8/1 機構部品の故障現象と加速試験
1985/10/1 電子部品・電子装置の環境信頼性試験