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海外及び国内調達電気・電子部品の信頼性の確保と評価の短期化

海外及び国内調達電気・電子部品の信頼性の確保と評価の短期化

~コストが安く品質・信頼性の高い調達部品を短期間に選ぶには~
東京都 開催 会場 開催

開催日

  • 2012年6月8日(金) 10時30分 16時30分

受講対象者

  • 電気・電子機器に関連する方
    • 技術者・設計者・開発者
    • 信頼性技術者
    • 購買担当者
    • 品質保証担当者など

修得知識

  • 部品が故障するメカニズム
  • 調達部品を短期間に評価する方法
  • 安価・高品質な部品を短期間で把握・評価・採用するポイント

プログラム

 今や電気・電子機器製品の値段は大幅に下がり、またグローバル化して世界中で生産されている。
 このため設計・開発メーカーはより安い部品を求めて世界中を駆け巡り、コスト競争に勝ち抜こうと懸命な努力をしている。
 その結果、電気・電子機器を構成している部品はより安くて、品質の良いものが求められている。
 しかし、安さだけに注目して部品を採用すると、できあがった製品は市場で大きなトラブルを引き起こし、企業は致命的なダメージを負ってしまうことになる。
 そこで、安くて、しかも品質・信頼性のある部品をどうやって素早く把握し、評価し、採用していくかは設計・開発メーカーにとっては大きな問題となっている。
 本セミナーでは電気・電子機器を設計・開発する企業の設計者、信頼性技術者、購買担当者、品質保証担当者などにとって即戦力となる知識・技術を提供することを目的としている。

  1. 第1章 信頼性評価の問題点と評価の目的
  2. 第2章 部品はなぜ故障するか ~故障メカニズムを知ろう~
    1. 反応速度論とアレニウスモデル、θ℃則、ベキ乗則
    2. 複合ストレスモデル (アイリングモデル)
    3. 拡散と温度ストレスによる故障
      • パープルプレイグ
      • カーケンダル効果
      • はんだの脆化現象
      • 熱疲労現象
    4. 湿度ストレスによる故障現象 (Vapor Pressure Model)
    5. 湿度と電界による故障現象
      • アルミ電界腐食
      • ガルバニック腐食
      • イオンマイグレーション
      • CAF
      • エレクトロマイグレーション
      • ウイスカ現象
      • TDDB
      • ホットキャリア現象
    6. メカニカルなストレスによる故障
      • 脆性破壊
      • S-Sモデルとマイナー則
      • クリープ破壊現象
    7. その他のストレスによる故障
      • α線によるメモリ誤動作現象、等
  3. 第3章 調達部品を短期間に評価する方法
    1. 構造解析と良品解析
    2. 短期間に評価する信頼性評価法
    3. 信頼性試験規格について
    4. 限界試験とステップストレス試験
    5. 超加速試験法
      • 熱衝撃試験 (HST)
      • 高温高湿バイアス試験 (THB)
      • 不飽和型プレッシャー試験 (HAST)
      • 複合加速試験1 (HALT)
      • 複合加速試験2 (CERT)
    6. 品質工学に基づく機能性評価法
  4. 第4章 まとめとQ&A
    1. RACER法による意思決定法
    2. Q&A

講師

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図

主催

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お問い合わせ

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(主催者への直接のお問い合わせはご遠慮くださいませ。)

受講料

1名様
: 43,000円 (税別) / 45,150円 (税込)
1口
: 55,000円 (税別) / 57,750円 (税込) (3名まで受講可)

割引特典について

  • 複数名 同時受講:
    1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)
  • 早期申込割引:
    2012年5月8日 17:00までのお申込は、
    1名受講・1口受講とともに受講料から10%割引となります。
本セミナーは終了いたしました。

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