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車載電子機器・部品の環境試験と信頼性向上技術

車載電子機器・部品の環境試験と信頼性向上技術

~加速試験の結果との相関を見抜き、信頼性設計の要点を抑える~
東京都 開催 会場 開催

開催日

  • 2018年3月6日(火) 10時00分17時00分

プログラム

 電子機器の低コスト化のために海外製の電子部品を使用するメーカが増えてきていますが、それに比例してトラブルを引き起こす事例が多く見受けられます。
 これらのトラブルをなくすため、本セミナーでは、トラブルの未然防止対策のための信頼性試験の考え方ややり方を詳細に解説します。 その結果、電子機器が市場の使用環境でいつ (どのくらい使ったら) 、どのくらいの割合で故障が起こるのか予測でき、トラブルの未然防止を行うことができるようになります。

  1. 電子機器・部品の市場トラブルの現状と課題
    1. 電子機器・部品の市場トラブルの現状
    2. なぜ市場トラブルが起こったのかを考える
  2. 電子機器・部品を評価する際に用いる信頼性試験法と信頼性用語
    1. 信頼性用語の意味・定義
    2. 故障の数と時間の関係
    3. いろいろな信頼性試験とその目的
  3. 電子回路・部品の寿命評価に用いる信頼性の理論
    1. 使用環境の温度と故障する時間の関係 (アレニウスモデルの適用)
    2. 温度に加えて湿度も考慮した場合 (アイリングモデルを適用)
  4. 加速試験による市場での寿命予測の実際
    1. 寿命に影響するストレス
    2. 寿命予測のプロセス
    3. 加速試験による市場での寿命予測事例
    • 質疑応答

講師

  • 本山 晃
    M.A 信頼性技術オフィス
    代表

会場

株式会社 技術情報協会
東京都 品川区 西五反田2-29-5 日幸五反田ビル8F
株式会社 技術情報協会の地図

主催

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: 50,000円 (税別) / 54,000円 (税込)
複数名
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    • 1名様でお申し込みの場合 : 1名で 50,000円(税別) / 54,000円(税込)
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  • 同一法人内による複数名同時申込みのみ適用いたします。
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