技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
本セミナーにおいては、「ヒューマンエラーは人間が引き起こす、であれば人間が防げるのでは」との観点から、人的側面に光を当て、やる気を引き出し意欲の基である「人間力」を品質改善の基盤として、簡単に実践できて効果があり、現場で即日、役立てられる仕組を提供いたします。
ヒューマンエラーが発生すると、ルールやマニュアル等を強化して反省を迫り言われたことしかやらない「考えない集団」を生み出し、見事に「負の連鎖」を繰り返してしまいます。
『もう、限界だ、何をやっても駄目だ!!』と諦めてしまう前に、「改善の知恵が日常化する組織風土」を構築することをお勧めします。『エラーを起こそう』と思ってエラーを起こす人はいません。構築の鍵は人間の「良くしたい」との「善なる思い」にあるのです。
本セミナーにおいては、『ヒューマンエラーは人間が引き起こす、であれば人間が防げるのでは』との観点から、人的側面に光を当て、「やる気」を引き出し「意欲」の基である「人間力」を品質改善の基盤として、「簡単に実践できて効果がある」今まで体験したことのない「現場で即日、役立てられる仕組」を提供致します。
R&D支援センターからの案内登録をご希望の方は、割引特典を受けられます。
案内および割引をご希望される方は、お申込みの際、「案内の希望 (割引適用)」の欄から案内方法をご選択ください。
「案内の希望」をご選択いただいた場合、1名様 42,000円(税別) / 46,200円(税込) で受講いただけます。
複数名で同時に申込いただいた場合、1名様につき 25,000円(税別) / 27,500円(税込) で受講いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
---|---|---|---|
2025/2/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見 + 問題解決) | オンライン | |
2025/2/28 | 形骸化したFMEAを改善した実践演習セミナー (問題発見) | オンライン | |
2025/3/3 | わかりやすい製造指図書およびSOP作成のポイント | オンライン | |
2025/3/7 | 実験計画法の基礎からタグチメソッドの応用まで | オンライン | |
2025/3/11 | FTA / FMEA / DRBFMの作成・運用方法 | オンライン | |
2025/3/11 | 「安全係数と検査基準・規格値」決定法 | オンライン | |
2025/3/12 | GPTsを用いて過去トラ・ノウハウを開発に活かす方法 | オンライン | |
2025/3/12 | 品質向上のための実践的な製品設計と品質問題の防止 | オンライン | |
2025/3/12 | ものづくり人材を育て成果を出す組織をつくる技術部門マネジメント | オンライン | |
2025/3/14 | 実験計画法の基礎からタグチメソッドの応用まで | オンライン | |
2025/3/14 | 信頼性基準適用試験における運用への落とし込み・記録の残し方と (国内外) 委託時の信頼性保証 | オンライン | |
2025/3/14 | 量産に耐えうる最適設計仕様を導く非線形ロバスト最適化 / 非線形ロバストデザイン | オンライン | |
2025/3/17 | 信頼性の基礎 (2日間) | オンライン | |
2025/3/17 | 信頼性の基礎 (1) | オンライン | |
2025/3/18 | 信頼性の基礎と加速試験の進め方および試験結果の活用法 | オンライン | |
2025/3/18 | GLP省令:施設/試験で押さえるべき信頼性確保と最終報告書・生データの信頼性 | オンライン | |
2025/3/18 | 暗黙知を形式知化する手法「ファンクショナル・アプローチ」の基礎講座 | オンライン | |
2025/3/19 | 半導体・回路素子・電子部品における劣化寿命の故障モード・因子とその故障の寿命点 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/3/19 | ChatGPTによる生産管理の効率化と活用、運用のポイント | オンライン | |
2025/3/19 | 「安全係数と検査基準・規格値」決定法 | オンライン |
発行年月 | |
---|---|
2010/3/26 | 病院はどのように医療クラークの養成を行うべきか |
2006/3/10 | 信頼性抜取り試験・加速試験とデータ解析 |
1998/6/15 | 電子機器・部品の複合加速試験と信頼性評価技術 |
1993/4/1 | はんだ接続の高信頼性化技術とその評価 |
1992/11/11 | VLSI試験/故障解析技術 |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |