技術セミナー・研修・出版・書籍・通信教育・eラーニング・講師派遣の テックセミナー ジェーピー
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本セミナーでは、製造現場における時系列データの収集・解析、機械学習を組み合わせ、故障予測や異常発生予測に活かす方法とポイントを詳解いたします。
(2021年9月22日 10:30〜12:00)
“DXを導入する!”とは、実際に何をすることなのでしょうか?大きな意味としては、“進化したデジタル技術を浸透させることで人々の生活をより良いものへと変革すること”となります。これを製造現場に当てはめると、“進化したデジタル技術を製造現場へ浸透させることで製造現場をより良いものへと変革すること”となります。
何となく製造現場が良くなることとは思えますが、これでも今一つ意味が分からないですよね。現場で役立つDXをどのように導入していけばいいのか、その時、AI技術などをどのように活用するといいのかを事例を交えてお話しします。
(2021年9月22日 13:00〜14:30)
製造業は、新型コロナウイルスによる影響と並行してDXの波に直面しています。DXに積極的に取り組むことでスマート工場を実現した企業は、コロナ禍でも成長を続けています。一方、取り組みに出遅れた企業は市場での生き残りが厳しくなります。本講演ではスマート工場の取り組みについて、課題、実現するためのソリューション、そしてユースケースや事例を紹介します。
(2021年9月22日 14:45〜16:15)
DX (デジタルトランスフォーメーション) は、今や世の潮流と言われ、あらゆる産業において導入が始まっているが、製造現場におけるDXはただ単にデジタル化を推し進めるだけではなし得ず、明確に目標を定め、成功体験の積み重ねによってのみ成就できるものである。そのためには組織変革や人材育成にも踏み込むことも必要である。
本セミナーではスマートファクトリーの概要に始まり、それを実現するための要素など具体的事例を交えながら解説する。
日本国内に所在しており、以下に該当する方は、アカデミック割引が適用いただけます。
開始日時 | 会場 | 開催方法 | |
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2025/6/24 | 電子機器・部品の未然防止と故障解析 | オンライン | |
2025/6/24 | 各種プラスチック成形品の破損トラブルと原因解析 | オンライン | |
2025/6/24 | 集計・分析・可視化がすぐできる「モダンExcel」入門 (前編 + 後編) | オンライン | |
2025/6/24 | 集計・分析・可視化がすぐできる「モダンExcel」入門 (前編) | オンライン | |
2025/6/25 | 機械学習を用いた画像認識技術の基礎とその応用 | オンライン | |
2025/6/25 | 夜間無人化・自動化の進め方と無人管理体制の構築ポイント | オンライン | |
2025/6/25 | AIを活用したプレゼン資料作成のポイント | オンライン | |
2025/6/25 | 集計・分析・可視化がすぐできる「モダンExcel」入門 (後編) | オンライン | |
2025/6/26 | 設計業務改善を実現するデジタル技術、生成AIの効果的な実践・活用法 | オンライン | |
2025/6/26 | 最適解を効率的に導く統計的組合せ最適化:実験計画法とExcelでできる人工知能を併用する汎用的インフォマティクス:非線形実験計画法 | オンライン | |
2025/6/26 | ラボの整理整頓が定着する「仕組み」作りとマネジメントスキルの向上 | オンライン | |
2025/6/26 | 集計・分析・可視化がすぐできる「モダンExcel」入門 (前編 + 後編) | オンライン | |
2025/6/26 | AIを活用したプレゼン資料作成のポイント | オンライン | |
2025/6/26 | 集計・分析・可視化がすぐできる「モダンExcel」入門 (前編) | オンライン | |
2025/6/26 | 集計・分析・可視化がすぐできる「モダンExcel」入門 (後編) | オンライン | |
2025/6/27 | ヒューマンエラーから脱却するための「人間重視のヒューマンエラー防止法」 | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/27 | 各種プラスチック成形品の破損トラブルと原因解析 | オンライン | |
2025/6/30 | 不良ゼロへのアプローチ | オンライン | |
2025/6/30 | 医薬品の要求品質の明確化と外観検査のポイント | 東京都 | 会場・オンライン |
2025/6/30 | 信頼性の基礎知識と寿命目標をクリアするための加速試験・寿命予測のポイント | オンライン |
発行年月 | |
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1988/11/1 | EOS/ESD対策ハンドブック |
1988/2/1 | 半導体の故障モードと加速試験 |
1987/8/1 | 機構部品の故障現象と加速試験 |
1985/10/1 | 電子部品・電子装置の環境信頼性試験 |